[发明专利]用于确定层析图谱的方法和设备有效
| 申请号： | 201480078554.1 | 申请日： | 2014-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN106461624B | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | R·科诺陈缪斯 | 申请（专利权）人： | 托夫沃克股份公司 |
| 主分类号： | G01N30/46 | 分类号： | G01N30/46;G01N30/62;G01N30/86;G01N30/72 |
| 代理公司： | 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 | 代理人： | 赵飞;郭红丽 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定层析图谱的方法和设备。该方法包括第一步,其中样品被插入两个分离柱(2.1、2.2、2.3)中，对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3)，样品的对应部分利用对应的插入装置(3.1、3.2、3.3)插入相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中，对应的插入装置由对应的调制函数控制，以用于产生相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中样品的对应的调制部分，其中在分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的部分所使用的调制函数彼此不同。而且，该方法包括：第二步，其中样品的每个调制部分被引导经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)；第三步，其中在经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)之后样品的每个调制部分的信号用同一探测器(4)测量；和第四步，其中对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3)，计算信号和在相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的对应部分所使用的调制函数之间的相关性，以确定相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)的层析图谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 层析 图谱 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定层析图谱的方法，所述方法包括：a)第一步(51)，其中样品被插入两个分离柱(2.1、2.2、2.3)中，其中对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3)，所述样品的对应部分利用对应的插入装置(3.1、3.2、3.3)插入相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中，对应的插入装置由对应的调制函数控制，用于产生相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中所述样品的对应的调制部分，其中在所述分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制所述样品的部分所使用的调制函数彼此不同；b)第二步(52)，其中所述样品的每个调制部分被引导经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)；c)第三步(53)，其中在经过所述相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)之后，使用同一探测器(4)测量所述样品的每个调制部分的信号，其中，所述探测器测量的信号包括在样品的调制部分经过它们相应的分离柱之后来自于样品的调制部分的信号的叠加；和d)第四步(54)，其中对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3)，计算所述信号和在所述相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制所述样品的对应部分所使用的所述调制函数之间的相关性，以便确定所述相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)的层析图谱。
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