[发明专利]光电测量系统、测量探头及其方法在审

专利信息
申请号: 201480078884.0 申请日: 2014-06-04
公开(公告)号: CN106463046A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: B·奥尔森;S·桑德尔 申请(专利权)人: 瑞典爱立信有限公司
主分类号: G08C19/36 分类号: G08C19/36;G01R29/08;G01R31/00;G08C23/04;H04Q9/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华;马明月
地址: 瑞典斯德*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 发明涉及用于测量电路的电气性质的系统、测量探头和方法,包括借助连接至该电路的测量探头测量该电气性质,将所测量的该电路的电气性质转换为光信号。该方法进一步包括发送该光信号,并且借助图像传感器接收该光信号,该图像传感器被配置为记录包括传送该光信号的测量探头的图像。该方法进一步包括对所记录的图像进行处理以便从所接收的光信号解码测量数据。
搜索关键词: 光电 测量 系统 探头 及其 方法
【主权项】:
一种用于测量电路的电气性质的方法,包括:借助连接至所述电路的测量探头测量(201)所述电气性质;将所述电路的所测量的所述电气性质转换(202)为光信号;发送(203)所述光信号;借助图像传感器接收(204)所述光信号,所述图像传感器被配置为记录包括传送所述光信号的所述测量探头的图像;处理(205)所记录的所述图像以便从所接收的所述光信号解码测量数据。
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