[发明专利]MS/MS型质谱分析方法以及MS/MS型质谱分析装置有效
| 申请号： | 201480079919.2 | 申请日： | 2014-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106463339B | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 梅村佳克 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在对源自目标成分的多价离子进行MS/MS分析时，当分析者经由输入部(20)输入脱离碎片的质量值(mLoss)、脱离碎片的价数(zLoss)、前体离子的价数(zPrec)以及产物离子的价数(zProd)中的至少两个值时，价数计算部(221)基于zPrec＝zProd+zLoss的关系来计算未输入的价数(zPrec或zProd)。当开始进行MS/MS分析时，前体离子m/z设定部(222)设定通过前级四极杆滤质器(13)的离子的m/z＝MPrec，通过产物离子m/z计算部(223)将上述MPrec、mLoss、zPrec以及zProd应用于MProd＝(MPrec×zPrec‑mLoss)/zProd的关系式，来计算通过后级四极杆滤质器(16)的产物离子的m/z＝MProd。由此，即使在脱离碎片不是中性的情况下，也能够调查质量为mLoss、价数为zLoss的特定的带电碎片脱离那样的前体离子和产物离子的对。 1 | ||
| 搜索关键词： | 产物离子 前体离子 四极杆滤质器 脱离 计算部 质谱分析装置 多价离子 质谱分析 分析 带电 前级 离子 应用 调查 | ||
a)第一输入部，其供用户输入设定通过所述断裂而从前体离子脱离的碎片的质量mLoss；
b)第二输入部，其供用户输入设定碎片的价数zLoss、前体离子的价数zPrec以及产物离子的价数zProd这三个参数中的至少两个参数，其中，在所述断裂是由电子捕获裂解以外的裂解操作导致的断裂的情况下，该碎片的价数zLoss是通过该断裂而从前体离子脱离的碎片的价数，在所述断裂是由电子捕获裂解导致的断裂的情况下，该碎片的价数zLoss是捕获电子而中性化并脱离的碎片的中性化前的价数；
c)不足信息计算部，其在所述三个参数zLoss、zPrec以及zProd中的一个参数未被输入的情况下，利用zPrec＝zProd+zLoss的关系，根据由所述第二输入部输入的参数来计算未被输入的一个参数zLoss、zPrec或zProd；以及
d)控制部，其在执行MS/MS分析时分别控制该第一质量分离部和该第二质量分离部的动作，使得由所述第二质量分离部选择的产物离子的质荷比MProd相对于由所述第一质量分离部选择的前体离子的质荷比MPrec满足MProd＝(MPrec×zPrec‑mLoss)/zProd的关系。
2.一种MS/MS型质谱分析装置，具备：离子化部，其将试样中的目标成分离子化；第一质量分离部，其从源自目标成分的离子中的价数为2以上的多价离子选择具有特定的质荷比的离子来作为前体离子；裂解操作部，其使由该第一质量分离部选择出的前体离子断裂；第二质量分离部，其从通过该断裂而生成的产物离子中选择具有特定的质荷比的产物离子；以及检测部，其检测由该第二质量分离部选择出的离子，该MS/MS型质谱分析装置的特征在于，还具备：a)第一输入部，其供用户输入设定通过所述断裂而从前体离子脱离的碎片的质量mLoss；
b)第二输入部，其供用户输入设定碎片的价数zLoss和产物离子的价数zProd这两个参数中的任一个参数，其中，在所述断裂是由电子捕获裂解以外的裂解操作导致的断裂的情况下，该碎片的价数zLoss是通过该断裂而从前体离子脱离的碎片的价数，在所述断裂是由电子捕获裂解导致的断裂的情况下，该碎片的价数zLoss是捕获电子而中性化并脱离的碎片的中性化前的价数；
c)第三输入部，其供用户输入设定用于选择前体离子的价数的选择基准；
d)价数判定部，其判定在通过对目标成分进行MS分析而得到的质谱中观测到的各离子的价数；
e)前体离子价数决定部，其基于由该价数判定部判定出的价数和由所述第三输入部设定的选择基准来决定要分析的前体离子的价数zPrec；
f)价数决定部，其利用zPrec＝zProd+zLoss的关系，根据由所述前体离子价数决定部决定的前体离子价数zPrec和由所述第二输入部输入的一个参数zLoss或zProd来计算未被所述第二输入部输入的一个参数zProd或zLoss；以及
g)控制部，其在执行MS/MS分析时分别控制该第一质量分离部和该第二质量分离部的动作，使得由所述第二质量分离部选择的产物离子的质荷比MProd相对于由所述第一质量分离部选择的前体离子的质荷比MPrec满足MProd＝(MPrec×zPrec‑mLoss)/zProd的关系。
3.根据权利要求2所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，所述价数判定部基于与目标成分中组成相同而同位素不同的同位素离子对应的所述质谱中的各同位素离子峰的间隔来判定价数。
4.根据权利要求2所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于在由所述价数判定部判定出的价数为多种的情况下选择其中的一种价数。
5.根据权利要求3所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于在由所述价数判定部判定出的价数为多种的情况下选择其中的一种价数。
6.根据权利要求2所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于选择多种价数，在由所述前体离子价数决定部决定了多个前体离子的价数zPrec的情况下，所述控制部控制所述第一质量分离部和所述第二质量分离部的动作，使得一边依次变更前体离子的价数一边分别执行MS/MS分析。
7.根据权利要求3所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于选择多种价数，在由所述前体离子价数决定部决定了多个前体离子的价数zPrec的情况下，所述控制部控制所述第一质量分离部和所述第二质量分离部的动作，使得一边依次变更前体离子的价数一边分别执行MS/MS分析。
8.根据权利要求6所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于选择2以上的任意的价数以上的所有价数。
9.根据权利要求7所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，由所述第三输入部设定的选择基准用于选择2以上的任意的价数以上的所有价数。
10.根据权利要求1～9中的任一项所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，所述第一输入部至所述第二输入部用于输入从前体离子脱离的碎片的分子式及价数，或输入从前体离子脱离的碎片的离子式，
MS/MS型质谱分析装置还具备计算部，该计算部基于从所述第一输入部至所述第二输入部输入的信息来计算所述碎片的质量和价数。
11.根据权利要求1～9中的任一项所述的MS/MS型质谱分析装置，其特征在于，所述第一输入部至所述第二输入部用于从预先登记的多个名称中选择从前体离子脱
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