[发明专利]用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法有效
申请号: | 201480080021.7 | 申请日: | 2014-06-17 |
公开(公告)号: | CN106461860B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | F·J·阿赫滕;D·莫林;P·斯拉德;M·比戈-阿斯楚克 | 申请(专利权)人: | 德拉克通信科技公司 |
主分类号: | G02B6/028 | 分类号: | G02B6/028;G02B6/036 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: |
本发明涉及一种用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法,所述方法包括以下步骤:在光源和所述光学组件之间的光路中设置模式群分离光纤;以及按所述模式群分离光纤的纤芯中心和纤芯半径之间的离散间隔,将波长为λt的光的基准脉冲从所述光源经由所述模式群分离光纤注入到所述光学组件中。所述模式群分离光纤是具有α分布渐变折射率纤芯的多模光纤,其中α值被选择成使得所述模式群分离光纤在波长λt处满足以下标准:公式(I) |
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搜索关键词: | 用于 表征 穿过 光学 组件 多模光 模式 特性 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法,所述方法包括以下步骤:在光源(1)和所述光学组件(8)之间的光路中设置模式群分离光纤(5);将具有波长λt的光的基准脉冲从所述光源(1)经由所述模式群分离光纤(5),按所述模式群分离光纤的纤芯中心和纤芯半径之间的离散间隔注入到所述光学组件(8)中;以及检测所述光学组件(8)所输出的光信号,其中,所述模式群分离光纤是具有α分布渐变折射率纤芯的多模光纤,其中α值被选择成使得所述模式群分离光纤在波长λt处满足以下标准:
其中:Δτ是以ps/m为单位表示的连续的模式群之间的时间延迟差;L是以m为单位表示的所述模式群分离光纤的长度;以及ΔTREF是以ps为单位表示的所述基准脉冲的四分之一最大值全宽度,其中基准脉冲的四分之一最大值全宽度是所述基准脉冲的功率等于该功率的最大值的四分之一处的两个时间值之间的差。
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