[发明专利]检测装置有效
| 申请号： | 201480080194.9 | 申请日： | 2014-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN106471878B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 星川和美;下坂贤司 | 申请（专利权）人： | 株式会社富士 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆德骏;谢丽娜 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在具备下方照明装置(88)、侧方照明装置(90)及相机(96)的拍摄装置(80)中，通过下方照明装置从下方向吸嘴(60)照射光，通过侧方照明装置从吸嘴的侧方照射光。并且，从下方照明装置照射的光经由第一光路(两条虚线(106、108、110)之间的路线)到达相机，从侧方照明装置照射的光经由第二光路(两条虚线(124、126、128)之间的路线)到达相机。而且，通过遮光块(92、94)进行遮挡，以使从下方照明装置照射的光不会沿第二光路到达相机。由此，能够防止重影图像显现在吸嘴的下表面侧的拍摄时的图像上。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测装置，用于检测照射于被检测物的光，所述检测装置的特征在于，具备：第一光源，从第一方向向所述被检测物照射光；第二光源，从第二方向向所述被检测物照射光；检测部，用于检测从所述第一光源照射的光和从所述第二光源照射的光；第一导光部件，将从所述第一光源照射的光经由第一光路引导至所述检测部；第二导光部件，将从所述第二光源照射的光经由第二光路引导至所述检测部；及第一遮光块及第二遮光块，遮挡从所述第一光源照射的光，以使从所述第一光源照射的光不会沿所述第二光路到达所述检测部，所述第一遮光块配置于所述被检测物与所述第二光源之间，所述第二遮光块配置于所述被检测物与所述第二导光部件之间，在所述第一遮光块及所述第二遮光块上分别形成有第一狭缝、第二狭缝，所述第一狭缝、所述第二狭缝在来自所述第二光源的光的照射方向上一致，并且，所述第一遮光块及所述第二遮光块遮挡由所述第一光源照射的光、或所述第二遮光块遮挡由所述第一光源照射的光。
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