[发明专利]通过在均匀性测量机器中使用多次旋转识别测量过程谐波而达成轮胎均匀性改进有效

专利信息
申请号: 201480081661.X 申请日: 2014-07-31
公开(公告)号: CN106796161B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: W·D·马夫布伊 申请(专利权)人: 米其林集团总公司
主分类号: G01M17/02 分类号: G01M17/02
代理公司: 11314 北京戈程知识产权代理有限公司 代理人: 程伟;王锦阳<国际申请>=PCT/US2
地址: 法国克莱*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明提供用于改进轮胎均匀性的方法和系统。更确切地说,可识别促成针对轮胎执行的均匀性测量的测量过程谐波的一个或多个参数。所述测量过程谐波可为与获取轮胎的均匀性测量值相关联的过程谐波效应,例如与用以在用均匀性测量机器进行均匀性测量期间负载轮胎的行走轮的失圆度相关联的过程谐波效应。测量过程谐波可仅由均匀性测量值的获取产生,且可能不会促成实际轮胎不均匀性。一经识别,与测量过程谐波相关联的一个或多个参数可用以校正轮胎的均匀性测量值以考虑测量过程谐波。接着可基于所述经校正测量值修改轮胎制造以改进轮胎均匀性。
搜索关键词: 通过 均匀 测量 机器 使用 多次 旋转 识别 过程 谐波 达成 轮胎 改进
【主权项】:
1.一种改进轮胎均匀性的方法,其包括:/n存取多个测试轮胎的集合所获得的均匀性参数的均匀性测量值,在用行走轮负载所述测试轮胎的情况下,用均匀性测量机器针对所述测试轮胎的多次旋转获得每一测试轮胎的所述均匀性测量值;/n确定指示测试轮胎的集合所获得的所述均匀性测量值的方差的数据,其包括:/n确定与测试轮胎的集合的所述多次旋转中的第一旋转相关联的均匀性测量值的第一方差;/n确定与测试轮胎的集合的所述多次旋转中的第二旋转相关联的均匀性测量值的第二方差;以及/n至少部分地基于所述第一方差和所述第二方差确定指示独立方差的数据;/n至少部分地基于指示所述方差的数据估计与行走轮相关联的测量过程谐波的一个或多个参数,所述测量过程谐波是与轮胎的均匀性测量值的获取相关联的过程谐波效应;以及/n至少部分地基于与所述行走轮相关联的所述测量过程谐波修改轮胎制造。/n
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