[发明专利]使用铝试剂的含氧阴离子浓度测定有效
申请号: | 201480081737.9 | 申请日: | 2014-09-05 |
公开(公告)号: | CN106796178B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 尼古拉斯·S·埃冈;罗纳德·V·达维斯 | 申请(专利权)人: | 艺康美国股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/77 | 分类号: | G01N21/77;G01N31/01 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 顾晋伟;冷永华 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 为了测定水溶液中含氧阴离子的浓度,将铝试剂添加至水溶液中以形成光学分析溶液。铝试剂的添加可能形成或不形成铝‑含氧阴离子氢氧化物水合物沉淀。将光导入光学分析溶液以测定所述光学分析溶液的光学响应。其后,根据光学分析溶液的光学响应测定水溶液中含氧阴离子的浓度。例如,当铝试剂浓度与光学分析溶液的光学响应拐点对应时,含氧阴离子的浓度可使用使含氧阴离子浓度与铝试剂浓度关联的摩尔比来计算。 | ||
搜索关键词: | 使用 试剂 阴离子 浓度 测定 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:将铝试剂添加至具有未知浓度的含氧阴离子的水溶液中,从而形成光学分析溶液;将光导入所述光学分析溶液中,并由此测定所述光学分析溶液的光学响应;以及根据所述光学分析溶液的光学响应测定所述具有未知浓度的含氧阴离子的水溶液中所述含氧阴离子的浓度。
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