[发明专利]用于测定压力测量信号的方法以及用于该方法的压力测量装置有效

专利信息
申请号: 201480082688.0 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN107076629B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 约恩·雅各布;伯恩哈德·韦勒 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01L9/00 分类号: G01L9/00
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 曹正建;陈桂香
地址: 德国沃*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于测定电容式压力测量单元(1)中的压力测量信号(D)的方法,所述压力测量单元包括主体(3)和配置在所述主体(3)的前面的测量膜(5)。电极(7,9,11)配置在所述主体(3)和所述测量膜(5)上,并且在所述测量膜(5)的具有高的压力敏感性的区域中形成测量电容(Cm)并在所述测量膜(5)的具有低的压力敏感性的区域中形成基准电容(Cr),其中根据所述测量电容(Cm)和所述基准电容(Cr)的第一种估算(A1),对所述测量电容(Cm)和所述基准电容(Cr)进行彼此独立地检测,并且在第一测量范围内测定所述压力测量信号(D),以及根据所述基准电容(Cr)的第二种估算(A2)在第二测量范围内测定所述压力测量信号(D),并且如果根据第一种估算(A1)的所述压力测量信号(D)超过极限值(x),那么发生从第一种估算(A1)到第二种估算(A2)的转变。
搜索关键词: 用于 测定 压力 测量 信号 方法 以及 装置
【主权项】:
一种用于测定电容式压力测量单元(1)中的压力测量信号(D)的方法,所述压力测量单元包括主体(3)和配置在所述主体(3)的前面的测量膜(5),其中电极(7,9,11)配置在所述主体(3)和所述测量膜(5)上,所述各电极在所述测量膜(5)的具有高的压力敏感性的区域中形成测量电容(Cm)并在所述测量膜(5)的具有低的压力敏感性的区域中形成基准电容(Cr),其中根据所述测量电容(Cm)和所述基准电容(Cr)的第一种估算(A1),对所述测量电容(Cm)和所述基准电容(Cr)进行彼此独立地检测,并且在第一测量范围内测定所述压力测量信号(D),以及根据所述基准电容(Cr)的第二种估算(A2)在第二测量范围内测定所述压力测量信号(D),其特征在于,当根据第一种估算(A1)的所述压力测量信号(D)超过极限值(x)时,发生从第一种估算(A1)到第二种估算(A2)的转变。
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