[发明专利]飞行时间质谱分析装置有效

专利信息
申请号: 201480084278.X 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN107112195B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 古桥治 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/40 分类号: H01J49/40
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本京都府京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的离子反射器(32)为具有长方形状开口(322)的平板电极(321)大量排列而成的构成。以开口(322)的长边方向的中心轴线(322A)位于包含以下直线和中心轴线的平面上的方式决定各部的配置,该直线是连结离子阱(2)的离子分布的重心位置(2A)与检测器(4)的检测面上的中心位置(4A)的直线(Y轴),该中心轴线是离子射出方向的中心轴线(X轴)。由此,在针对沿离子反射器(32)的中心轴的电位分布而以所检测的离子簇的等时性得到改善的方式将反射电场的一部分设为非均匀电场时,成为实现等时性的理想的电位分布的区域沿Y轴方向扩展,使得离子的飞行轨道容易收敛于理想的电位分布的区域内。此外,虽然射出来的离子在飞行期间会沿Y轴方向较大程度地扩散,但扩散出去的离子也容易通过理想的电位分布的区域。由此,可实现高等时性,从而可达成高质量分辨率。
搜索关键词: 飞行 时间 谱分析 装置
【主权项】:
1.一种飞行时间质谱分析装置,其具备:线性离子阱,它是以围绕中心轴的方式配置多个杆电极而成,将离子捕捉至由该多个杆电极围成的空间内;飞行时间质谱分析仪,其具有使离子飞行的无电场区域和对离子进行反射的离子反射器;以及检测器,其检测离子,该飞行时间质谱分析装置将已捕捉至所述离子阱的内部空间的离子朝与该离子阱的中心轴正交的方向射出而导入至所述飞行时间质谱分析仪,并将由该飞行时间质谱分析仪根据质荷比加以分离后的离子导入至所述检测器来进行检测,该飞行时间质谱分析装置的特征在于,所述离子反射器具有将具有长方形状或狭缝状的开口的平板电极沿与该平板电极的展开面正交的轴排列多个的构成,该飞行时间质谱分析装置以沿所述平板电极的开口的长边方向的该开口的中心线位于包含以下直线和中心轴线的平面上的方式配置所述离子阱、所述离子反射器及所述检测器而成,该直线是连结所述离子阱的离子捕捉空间内的离子分布的重心位置与所述检测器的检测面上的规定位置的直线,该中心轴线是存在于所述离子分布的重心位置的离子的射出方向的中心轴线,并且,所述离子阱和所述离子反射器被配置以使得所述离子反射器中的所述平板电极的所述开口的所述长边方向的中心线位于与所述离子阱的所述中心轴的延伸方向正交且包含用于从所述离子阱射出离子的射出方向的所述中心轴线的平面内。
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