[发明专利]将推挽放大器校准到低二阶失真

摘要

一种集成电路包括第一放大器电路，所述第一放大器电路具有被配置为被校准到低二阶失真的推挽放大器。所述集成电路还包括具有至少一个推挽放大器(20，21)的第二放大器电路(15)，其中，晶体管的尺寸之间的尺寸比能够通过调节至少一个晶体管器件的尺寸来调节。该尺寸比可被连续调节为多个值，且针对每个值，确定在施加了测试信号(LOin)的情况下推挽放大器的第一输出信号(V1)和在没有施加测试信号的情况下推挽放大器的第二输出信号(V2)。确定使推挽放大器输出信号(V1，V2)之差最接近于零的尺寸比，并根据所确定的尺寸比，对第一放大器电路的推挽放大器进行校准。

主权项

一种电子集成电路(55)，包括第一放大器电路，所述第一放大器电路具有至少一个推挽放大器(11)，所述至少一个推挽放大器(11)具有在两个供电电压之间串联布置的一对互补的晶体管器件(12，13)，其中，所述第一放大器电路被配置为被校准以实现低二阶失真，其特征在于，所述集成电路还包括具有至少一个推挽放大器(20，21)的第二放大器电路(15；31；32)，所述第二放大器电路的至少一个推挽放大器(20，21)具有在所述供电电压之间串联布置的一对互补的晶体管器件(22，23，24，25)，·其中，所述第二放大器电路的至少一个推挽放大器(20，21)的所述一对互补的晶体管器件(22，23，24，25)的有效尺寸之间的尺寸比能够通过调节其晶体管器件中的至少一个晶体管器件的有效尺寸来调节；以及·测试信号(LOin)能够被施加在所述第二放大器电路的输入端；以及所述电子集成电路被配置为：·将所述第二放大器电路的所述至少一个推挽放大器(20，21)的尺寸比连续调节为多个值，·针对每个尺寸比，确定所述第二放大器电路的两个输出信号，所述两个输出信号中的第一输出信号(V1)是在施加了测试信号的情况下推挽放大器的低通滤波输出信号，以及第二输出信号(V2)是在没有施加测试信号的情况下推挽放大器的输出信号；·确定两个相邻尺寸比，针对所述两个相邻尺寸比，所述第一推挽放大器输出信号(V1)和所述第二推挽放大器输出信号(V2)之差具有相反符号；·选择所述两个相邻尺寸比之一；以及·根据所选尺寸比，对所述第一放大器电路的至少一个推挽放大器(11)进行校准。