[其他]微细图案形成系统有效
申请号: | 201490000733.9 | 申请日: | 2014-03-20 |
公开(公告)号: | CN205428873U | 公开(公告)日: | 2016-08-03 |
发明(设计)人: | 郑光春;柳志勋;成俊基;韩孝珍 | 申请(专利权)人: | 印可得株式会社 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/02 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李静;房岭梅 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本实用新型涉及一种微细图案形成系统,本实用新型的微细图案形成系统,包括:输送部,连续输送形成有阴刻图案的衬底;和填充部,在与所述衬底接触的状态下向所述衬底供给填料,并且以垂直于所述衬底的虚拟的转轴为中心进行旋转,从而将所述填料填充到所述阴刻图案内。 | ||
搜索关键词: | 微细 图案 形成 系统 | ||
【主权项】:
一种微细图案形成系统,其特征在于,包括:输送部,用于使用多个输送辊输送形成有阴刻图案的衬底;和填充部,形成于所述衬底的上部,包括:接触部,用于在与所述衬底接触的状态下向所述衬底供给填料;转轴,用于使所述接触部旋转,从而将被供给到所述衬底的填料填充到所述阴刻图案内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造