[其他]用于确定完好的半导体级的数量的装置有效

专利信息
申请号: 201490001501.5 申请日: 2014-06-20
公开(公告)号: CN207134981U 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: J.多恩 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H02M1/08 分类号: H02M1/08;G01R31/327
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 熊雪梅,冯欢
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实用新型涉及一种用于确定在具有至少一个半导体阀(13)的变流器(1)中的完好的半导体级的数量的方法,该半导体阀具有多个串联电连接的半导体级(200_1,200_2,200_n)。在方法中向至少一个半导体阀(13)施加测试信号(320)并且采集基于测试信号(320)出现的测试‑响应信号(330)。根据测试‑响应信号(330)确定半导体阀(13)的完好的半导体级的数量。此外,本实用新型涉及一种用于确定完好的半导体级的数量的装置。
搜索关键词: 用于 确定 完好 半导体 数量 装置
【主权项】:
一种用于确定在具有至少一个半导体阀(13)的变流器(1)中的完好的半导体级的数量的装置,该半导体阀具有多个串联电连接的半导体级(200_1,200_2,200_n),具有‑信号产生器(302),用于产生测试信号(320),‑信号馈入装置(329),用于向至少一个半导体阀(13)施加测试信号(320),‑传感器(304),用于采集基于测试信号(320)出现的测试‑响应信号(330),和‑分析单元(312),用于借助测试‑响应信号(330)与变流器(1)的不同的参考‑响应信号(310)的比较并且借助具有与测试‑响应信号(330)最大相似性的参考‑响应信号的确定,来确定半导体阀(13)的完好的半导体级的数量,其中不同的参考‑响应信号分别是具有半导体阀(13)的不同大小的数量的完好的半导体级(200_1,200_2,200_n)的变流器(1)的参考‑响应信号。
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