[发明专利]一种增强SERS信号的定量分析方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201510002031.5 申请日: 2015-01-05
公开(公告)号: CN104502326B 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 陈增萍;陈瑶;田中群 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 代理人: 马强
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种增强SERS信号的定量分析方法,包括以下步骤(1)在基片上钻圆锥孔或圆柱‑圆锥孔;圆柱‑圆锥孔是在圆锥孔的上方连接圆柱孔,且圆锥孔一端与圆柱孔一端相接;(2)在钻有步骤(1)所述孔的基片表面沉积纳米颗粒,得到增强基底;(3)利用增强基底结合内标法获取校正样本的SERS光谱数据;(4)在校正样本的SERS光谱数据与样本中待测物质浓度矢量c之间建立校正模型;(5)利用增强基底结合内标法获取待测样本的SERS光谱xtest;采用校正模型计算出待测样本中待测物质的浓度。本发明的增强SERS信号的定量分析方法相比于平面增强基底,增强效果要强5~10倍,可以应用在痕量物质定量分析中。
搜索关键词: 一种 增强 sers 信号 定量分析 方法 及其 应用
【主权项】:
一种增强SERS信号的定量分析方法,包括以下步骤:(1)在基片上钻圆锥孔或圆柱‑圆锥孔;所述圆柱‑圆锥孔是在圆锥孔的上方连接圆柱孔,且圆锥孔一端与圆柱孔一端相接;(2)在钻有步骤(1)所述孔的基片表面沉积纳米颗粒,使所述孔表面沉积纳米颗粒得到增强基底;(3)利用所述增强基底结合内标法获取校正样本的SERS光谱数据;(4)在校正样本的SERS光谱数据与样本中待测物质浓度矢量c之间建立校正模型;(5)利用所述增强基底结合内标法获取待测样本的SERS光谱xtest;采用所述校正模型计算出待测样本中待测物质的浓度。
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