[发明专利]用于自动磁粉探伤的荧光强度测量方法

摘要

本发明公开了一种用于自动磁粉探伤的荧光强度测量方法。本发明的方法包括步骤1，采集被测工件的荧光图像；步骤2，根据荧光图像，计算并标定摄像设备的采样值与荧光强度值的线性函数斜率；步骤3，利用线性函数斜率计算荧光强度。本发明能够自动对工件的缺陷荧光图像进行计算，从而获得准确的荧光强度，避免了人为误差。

主权项

1.一种用于自动磁粉探伤的荧光强度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，采集被测工件的荧光图像；步骤2，根据所述荧光图像，计算并标定摄像设备的采样值与荧光强度值的线性函数斜率；所述步骤2包括以下步骤：步骤2.1，计算工况下限浓度磁悬液时十字痕迹的亮度和荧光强度；所述步骤2.1包括以下步骤：步骤A1，配置工况下限浓度磁悬液；步骤B1，取A型灵敏度试片置于工件之上；步骤C1，磁悬液涂敷于A型灵敏度试片之上；步骤D1，磁化工件，紫外光源照射工件；步骤E1，计算机通过摄像设备采集到的十字痕迹亮度记录为Vx0；步骤F1，荧光亮度计测得的十字痕迹的荧光强度记录为Vy0；步骤2.2，计算正常工况浓度磁悬液时十字痕迹的亮度和荧光强度；所述步骤2.2包括以下步骤：步骤G1，配置正常工况浓度磁悬液；步骤H1，取A型灵敏度试片置于工件之上；步骤I1，磁悬液涂敷于A型灵敏度试片之上；步骤J1，磁化工件，紫外光源照射工件；步骤K1，计算机通过摄像设备采集到的十字痕迹亮度记录为Vx1；步骤L1，荧光亮度计测得的十字痕迹的荧光强度记录为Vy1；步骤2.3，计算线性函数斜率；即，线性函数斜率步骤3，利用所述线性函数斜率计算荧光强度；所述步骤3包括以下步骤：步骤3.1，亮度和均匀度筛选，保留荧光饱满、均匀的图像；所述步骤3.1包括以下步骤：步骤A2，裁剪图像，只留下磁粉探伤检测窗口内X×Y像素；步骤B2，以3×3邻域对图像中值滤波，去除干扰；步骤C2，使用梯度边缘检测提取工件缺陷图像；步骤D2，计算缺陷图像像素亮度均值Vavg，作为当前图像荧光亮度值Vx1；步骤E2，亮度筛选，舍弃平均亮度低于阈值Vs的图像，留下荧光饱满的图像；步骤F2，均匀性筛选，舍弃不均匀度高于阈值Ns的图像，留下荧光均匀的图像，Ns的取值为0.1；缺陷图像不均匀度计算方法为：其中，N为图像不均匀度，Vavg为图像平均亮度，C为图像像素数量，Vi为图像中像素亮度；步骤3.2，根据保留下的图像与线性函数斜率计算荧光强度值；所述步骤3.2包括以下步骤：步骤G2，原荧光亮度值Vx2与当前图像荧光亮度值Vx加权滤波得到现荧光亮度值Vx；Vx＝αVx1+(1‑a)Vx2，其中α为滤波系数，取值为0～1；步骤H2，根据摄像设备的采样值与荧光强度值的线性函数关系，使用现荧光亮度值Vx计算得到荧光强度值Vy；即，Vy＝Vy0+β(Vx‑Vx0)。