[发明专利]一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统有效
| 申请号： | 201510007478.1 | 申请日： | 2015-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN104596900B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李磊;刘骝;喻佳俊;黄正旭;高伟;李梅;周振 | 申请（专利权）人： | 暨南大学;广州禾信分析仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人： | 谭英强 |
| 地址： | 510632 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统，该系统包括获取单元、计算处理单元及替换单元。该方法包括A、获取当前的进样测量压力；B、根据大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型，对获取的进样测量压力进行计算处理，从而计算得出一粒径校正曲线；C、将当前的粒径校正曲线替换为步骤B计算得出的粒径校正曲线。通过使用本发明能克服外在环境气压变化所带来的仪器粒径检测结果的误差，使得仪器在气压变化时也能确保数据结果的准确性。本发明可广泛应用于颗粒物粒径检测装置中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 实现 大气 颗粒 粒径 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法，其特征在于：该方法包括：A、获取当前的进样测量压力；B、根据获取的进样测量压力和大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型中所包含的第二拟合方程以及常量参数，从而计算出在获取的进样测量压力下不同粒径的球形粒子所对应的飞行时间；然后根据计算出的不同粒径的球形粒子所对应的飞行时间以及大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型中所包含的第一拟合方程，从而进行曲线拟合，以得出一粒径校正曲线；其中，所述的第二拟合方程为进样测量压力与球形粒子的飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程，所述的第一拟合方程为球形粒子的粒径与飞行时间的拟合曲线所对应的拟合方程；C、将当前的粒径校正曲线替换为步骤B计算得出的粒径校正曲线。
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