[发明专利]动态存储器测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201510007984.0 | 申请日： | 2015-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN105825898B | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 萧启维 | 申请（专利权）人： | 力晶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种动态存储器的测试装置及测试方法。动态存储器测试装置包括系统整合式芯片，用以耦接至动态存储器。系统整合式芯片包括控制单元以及内嵌式存储装置。控制单元耦接至动态存储器。内嵌式存储装置储存存储器测试程序码，其中，控制单元读取存储器测试程序码并借助执行存储器测试程序码以对动态存储器执行测试操作。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 存储器 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种动态存储器测试装置，包括：一系统整合式芯片，耦接至该动态存储器，包括：一控制单元，耦接至该动态存储器；以及一内嵌式存储装置，储存一存储器测试程序码，其中，该控制单元读取该存储器测试程序码并借助执行该存储器测试程序码以对该动态存储器执行测试操作，其中，该测试操作包括通过该动态存储器的初始化信息来改变该动态存储器内部的存取的时间信息及该动态存储器的核心电压的至少其中一个。
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