[发明专利]一种巨磁阻抗传感器对平面内磁性目标的定位方法有效

专利信息
申请号: 201510008066.X 申请日: 2015-01-08
公开(公告)号: CN105890507B 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 段修生;杨青;肖晶;单甘霖 申请(专利权)人: 中国人民解放军军械工程学院
主分类号: G01B7/004 分类号: G01B7/004
代理公司: 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 代理人: 王占华
地址: 050003 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及一种巨磁阻抗传感器对平面内磁性目标的定位方法,解决在巨磁阻抗传感器固定放置状态下,当平面内磁性目标运动方向不确定时定位的问题。将巨磁阻抗传感器(1)和巨磁阻抗传感器(2)中心重合且正交放置,以中心为原点(3),以巨磁阻抗传感器(1)的轴向为X轴,以巨磁阻抗传感器(2)的轴向为Y轴,建立直角平面坐标系,对于所述直角坐标系内的目标(4),首先判断位于哪个象限,再根据巨磁阻抗传感器(1)的等幅值变化率曲线(5)和巨磁阻抗传感器(2)的等幅值变化率曲线(6)求解交点,该交点即为目标(4)的位置。本发明所涉及的方法能够实现平面内磁性目标的探测和定位。
搜索关键词: 一种 磁阻 传感器 平面 磁性 目标 定位 方法
【主权项】:
1.一种巨磁阻抗传感器对平面内磁性目标的定位方法,其特征包括如下步骤:一、将第一巨磁阻抗传感器(1)和第二巨磁阻抗传感器(2)的中心重合且正交放置,以所述中心为原点(3),以第一巨磁阻抗传感器(1)的轴向为X轴,以第二巨磁阻抗传感器(2)的轴向为Y轴,建立平面直角坐标系;二、磁性目标(4)位于所述平面直角坐标系内,所述磁性目标(4)的坐标为(x0,y0),分别测量第一巨磁阻抗传感器(1)和第二巨磁阻抗传感器(2)的相位特征;三、分别根据所述第一巨磁阻抗传感器(1)和第二巨磁阻抗传感器(2)的相位特征判定所述磁性目标(4)位于所述平面直角坐标系的具体象限:(一)轴向重合于X轴的第一巨磁阻抗传感器(1)测量的相位特征如果大于阈值A,则所述磁性目标(4)位于Y轴的右侧平面内,如果小于阈值A,则所述磁性目标(4)位于Y轴的左侧平面内;(二)轴向重合于Y轴的巨磁阻抗传感器测量的相位特征如果大于阈值B,则所述磁性目标(4)位于X轴的下侧平面内,如果小于阈值B,则所述磁性目标(4)位于X轴的上侧平面内;(三)根据(一)和(二)的比较结果可判定所述磁性目标(4)位于的象限;四、分别计算所述第一巨磁阻抗传感器(1)和第二巨磁阻抗传感器(2)的输出信号幅值变化率,幅值变化率的计算公式为:其中,U(i)表示对应目标在位置i时的巨磁阻抗传感器输出信号的幅值,U(0)为仅有环境磁场时巨磁阻抗传感器输出信号的幅值,Ur(i)是目标在位置i时输出信号的幅值变化率;五、根据所述第一巨磁阻抗传感器(1)的输出信号幅值变化率确定第一巨磁阻抗传感器(1)的第一等幅值变化率曲线(5),根据所述第二巨磁阻抗传感器(2)的输出信号幅值变化率确定第二巨磁阻抗传感器(2)的第二等幅值变化率曲线(6);六、求解所述磁性目标(4)所在象限内的第一等幅值变化率曲线(5)和第二等幅值变化率曲线(6)的交点坐标(x0,y0),转换为极坐标(r,α),其表达式为:其中,r为所述磁性目标(4)距离所述原点(3)的距离,α表示方位角。
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