[发明专利]晶圆背面印胶的封装方法在审
申请号: | 201510015031.9 | 申请日: | 2015-01-09 |
公开(公告)号: | CN105895540A | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
发明(设计)人: | 凡会建;李文化;彭志文 | 申请(专利权)人: | 特科芯有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215024 江苏省苏州市工*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了晶圆背面印胶的封装方法,包括晶圆,胶层和基板,对整片晶圆执行减薄、刷胶、贴蓝膜、切割、上片、烘烤工艺,其包括:晶圆背面减薄、晶圆背面刷硅胶、晶圆背面贴蓝膜、晶圆切割、上片、烘烤;上述技术方案是将背面刷胶再贴蓝膜的晶圆切割为单颗晶圆颗粒,改变晶圆对DAF膜的依赖,极大降低固晶直接材料成本;避免点胶工艺不均匀造成的胶层空洞,提高封装工艺可靠性,同时提高固晶后芯片平整度,有利于焊线制程稳定,在不增加工艺复杂的情况下同,降低成本,改善晶圆和基板结合品质。 | ||
搜索关键词: | 背面 封装 方法 | ||
【主权项】:
晶圆背面印胶的封装方法,包括晶圆,胶层和基板,其特征在于:所述晶圆为整片晶圆,所述胶层为硅胶层,对所述整片晶圆执行减薄工艺、刷胶工艺、贴蓝膜工艺、切割工艺、上片工艺、烘烤工艺,其包括:步骤一、减薄工艺:晶圆背面减薄,将晶圆背面朝上,用磨轮把晶圆进行磨平、减薄,将减薄后的整片晶圆置于陶瓷真空吸附平台上;步骤二、刷胶工艺:晶圆背面刷硅胶,将丝网钢板覆盖在整片晶圆的背面,丝网钢板和整片晶圆进行对位放置,在丝网钢板上涂上硅胶,用切割刀将丝网钢板上的硅胶均匀的印到整片晶圆背面形成胶膜;步骤三、贴蓝膜工艺:晶圆背面贴蓝膜,在整片晶圆背面的硅胶上面贴加蓝膜,将其边缘贴在铁环上;步骤四、切割工艺:晶圆切割,将整片晶圆和覆盖其背面的硅胶膜放在切割机上一起切割,切割后成为背面有硅胶膜的单颗晶圆,单颗晶圆的背面就形成一层均匀的硅胶膜;步骤五、上片工艺:把切割好的单颗晶圆通过固晶工艺,固定在基板上;步骤六、烘烤工艺:使单颗晶圆颗粒和基板之间进一步固化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造