[发明专利]一种压力检测方法、装置有效
| 申请号： | 201510015440.9 | 申请日： | 2015-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105841877B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 林哲帅;姜兴兴;罗思扬;李伟;陈创天 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01L11/02 | 分类号： | G01L11/02;G01L1/24 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 路凯;胡彬 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种压力检测方法、装置，所述压力检测方法包括：获取设置于待检测场所中的KBBF晶体反馈的探测信号，所述KBBF晶体的泊松比为1.3±0.2，所述KBBF晶体产生沿c轴方向的应变，根据获取的所述KBBF晶体的反馈探测信号计算待检测场所的压力，所述KBBF晶体的受力方向沿所述KBBF晶体的a轴或b轴。所述压力检测装置包括：KBBF晶体，所述KBBF晶体用于产生沿c轴方向的应变；所述KBBF晶体的泊松比为1.3±0.2，所述KBBF晶体的受力方向沿所述KBBF晶体的a轴或b轴。本发明实现了减小压力检测装置体积的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压力 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种压力检测方法，其特征在于，包括：获取设置于待检测场所中的KBBF晶体反馈的探测信号，所述KBBF晶体的泊松比为1.3±0.2，所述KBBF晶体产生沿c轴方向的应变；根据获取的所述KBBF晶体的反馈探测信号计算待检测场所的压力；其中，所述c轴与所述KBBF晶体的基向量中的c向量重合。
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