[发明专利]亚分辨率光学检测有效
| 申请号： | 201510015538.4 | 申请日： | 2015-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN104776797B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 尼他·罗马诺;纳道伊·格罗辛格;埃米尔·阿隆;亚伊尔·阿尔佩思 | 申请（专利权）人： | 脸谱公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京京万通知识产权代理有限公司11440 | 代理人： | 齐晓静 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于对体积内的位置进行光学检测的检测器，包括光束源，用于使结构化光图形照射在该体积上；以及数字检测器，具有给定尺寸的检测像素。该光图形当射入该体积内并且被反射回检测像素时具有包括峰和周围亮度结构的亮度分布。现在，峰通常可以小于像素尺寸，但是总亮度分布在单个像素上延伸。该系统可以包括电子处理器，用于评估多个相邻像素中的亮度分布，从而推断峰在比其落在上面的中心像素的尺寸小的区内的位置，这样给出亚像素分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 分辨率 光学 检测 | ||
【主权项】：
一种设备，其包括：结构化光源，用于向体积内照射结构化光图形；数字检测器，其具有多个检测像素，配置用于接收反射自所述体积的所述结构化光图形；以及电子处理器，其耦合于所述数字检测器，配置用于接收像素值，所述像素值指示与反射自所述体积的所述结构化光图形相关的光强度信号；所述光强度信号包括峰和周围结构；其中所述电子处理器进一步被配置为：在具有所述像素值的所述检测像素的子集，分析所述峰和周围结构的分布；以及基于所述分析，确定在小于所述多个检测像素中的一个检测像素的尺寸的区域内确定所述峰的位置。
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