[发明专利]薄膜的卷取不良检查方法在审
| 申请号： | 201510016650.X | 申请日： | 2015-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN104777167A | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 李银珪;朴宰贤;许宰宁 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;石磊 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种薄膜的卷取不良检查方法。该薄膜的卷取不良检查方法为：向卷取于辊子上的薄膜的卷取部照射光，并对光所照射的部位进行拍摄，而将从所拍摄的影像中得到的规定尺寸的低明亮度点判别为卷取不良部位，由此可以实时地对经由将薄膜卷取于辊子上的卷取过程中而产生的不良进行判别，由此可以防止在不理会不良的状态下而继续卷取薄膜。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 卷取 不良 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种薄膜的检查方法，其特征在于，向卷取于辊子上的薄膜照射光，并对光所照射的部位进行拍摄，将从所拍摄的影像中得到的规定尺寸的低明亮度点判别为卷取不良部位。
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