[发明专利]可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法有效
| 申请号： | 201510018017.4 | 申请日： | 2015-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN105842615B | 公开（公告）日： | 2019-03-05 |
| 发明（设计）人： | 钱阔;胡德才;杨睿 | 申请（专利权）人： | 扬智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 胡林岭 |
| 地址： | 中国台湾*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法。切换单元经由第一路径连接功能模块并经由第二路径连接至处理器的调试连接接口。引脚单元经由第三路径连接切换单元。控制模块接收输入数据并输出选择信号至切换单元，并且依据输入数据来决定选择信号的电平。切换单元根据选择信号而选择将第三路径导通至第一路径与第二路径其中之一。当第三路径导通至第二路径，调试平台经由调试连接接口对处理器进行调试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 异常 状态 进行 调试 系统 芯片 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可于异常状态下进行调试的系统芯片，其特征在于，所述芯片包括：功能模块；处理器，包括调试连接接口；切换单元，经由第一路径连接该功能模块，并经由第二路径连接该处理器的该调试连接接口；引脚单元，经由第三路径连接该切换单元；控制模块，连接该切换单元，接收输入数据并输出选择信号至该切换单元，并且依据输入数据来决定该选择信号的电平，其中该切换单元根据该选择信号而选择将该第三路径导通至该第一路径与该第二路径其中之一，其中，该处理器经由该调试连接接口、该切换单元及该引脚单元连接至调试平台，当该第三路径导通至该第二路径，该调试平台经由该调试连接接口对该处理器进行调试程序。
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