[发明专利]存储元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510018162.2 申请日: 2015-01-14
公开(公告)号: CN105845682B 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 彭及圣 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11573 分类号: H01L27/11573
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种存储元件及其制造方法。存储元件包括多个位线组、多个串选择晶体管栅极、多个电荷储存层以及多个接触窗插塞。多个位线组配置于基底上,每一组位线组包括在第一方向排列的多条位线,每一位线沿第二方向延伸。每一串选择晶体管栅极与两组位线组连接,并且每一组位线组被两个串选择晶体管栅极控制。串选择晶体管栅极包括主体部与多个延伸部,延伸部由所述主体部延伸至每两条所述位线之间,且彼此相对设置。电荷储存层位于串选择晶体管栅极与位线之间。接触窗插塞位于每一串选择晶体管栅极上,与串选择晶体管栅极电性连接。
搜索关键词: 存储 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种存储元件,包括:多个位线组,配置于基底上,每一组位线组包括在第一方向排列的多条位线,每一位线沿第二方向延伸;多个串选择晶体管栅极,每一所述串选择晶体管栅极与两组所述位线组连接,并且每一组位线组被两个所述串选择晶体管栅极控制,所述串选择晶体管栅极包括主体部与多个延伸部,所述延伸部由所述主体部延伸至每两条所述位线之间,且彼此相对设置;多个电荷储存层,位于所述串选择晶体管栅极与所述位线之间;以及多个接触窗插塞,位于每一所述串选择晶体管栅极上,与所述串选择晶体管栅极电性连接。
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