[发明专利]离线定位图像传感芯片连续坏点的方法

摘要

本发明提供了一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法，包括以下步骤获取被测图像传感芯片的一帧测试图像，并存储于一离线终端上；将所述测试图像转换为一第一二进制图像；获取所述测试图像中行连续坏点的位置及相应坏点的个数；获取所述测试图像中列连续坏点的位置及相应坏点的个数；获取所述被测图像传感芯片上连续坏点的位置及个数；N为自然数。通过测试机台获取一帧测试图像后，将所述测试图像存储于一离线终端上，分别获取所述测试图像中行、列连续坏点的位置及个数，从而得到被测图像传感芯片上的所有连续坏点的位置及个数，提高所述测试图像中连续坏点的定位速度，且不占用在线测试资源，提高了测试效率。

主权项

一种离线定位图像传感芯片连续坏点的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取被测图像传感芯片通过测试得到的一帧测试图像，并将所述测试图像存储于一离线终端上；将所述测试图像中的坏点进行标记得到一第一二进制图像；获取所述测试图像中有(N+1)个及以上行连续坏点的位置及相应坏点的个数；获取所述测试图像中有(N+1)个及以上列连续坏点的位置及相应坏点的个数；获取所述被测图像传感芯片上有(N+1)个及以上连续坏点的位置及个数；其中，N为自然数。