[发明专利]一种N型射频横向双扩散金属氧化物半导体器件有效

专利信息
申请号: 201510021811.4 申请日: 2015-01-15
公开(公告)号: CN104600098B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 孙伟锋;马荣晶;周雷雷;张艺;张春伟;刘斯扬;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 江苏永衡昭辉律师事务所32250 代理人: 王斌
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种N型射频横向双扩散金属氧化物半导体器件,包括P型衬底、P型外延层,在P型外延层中形成有N型轻掺杂漏区和P阱,P阱的一侧和所述N型轻掺杂漏区的一侧相接触;在所述N型轻掺杂漏区中形成有N型重掺杂漏区;在所述P阱中形成有N型重掺杂源区,在P阱的另一侧形成有P型重掺杂引出区,P型重掺杂引出区穿过P型外延层与P型硅衬底相接触;在P阱上形成有栅氧化层,且栅氧化层的两个边界分别位于N型重掺杂源区及N型轻掺杂漏区的边界上方;在P型重掺杂引出区和N型重掺杂源区上连接有源极金属,在N型重掺杂漏区上连接有漏极金属,其特征在于,所述栅氧化层为阶梯状,在栅氧化层的下方设有N型掺杂区且所述N型掺杂区位于P阱中。
搜索关键词: 一种 射频 横向 扩散 金属 氧化物 半导体器件
【主权项】:
一种N型射频横向双扩散金属氧化物半导体器件,包括:P型衬底(1),在P型衬底(1)上形成有P型外延层(2);在P型外延层(2)中形成有N型轻掺杂漏区(3)和P阱(4),且P阱(4)在所述N型轻掺杂漏区(3)的一侧,P阱(4)的一侧和所述N型轻掺杂漏区(3)的一侧相接触,在所述N型轻掺杂漏区(3)中形成有第一N型重掺杂漏区(5);在所述P阱(4)中形成有第二N型重掺杂源区(6),在P阱(4)的另一侧形成有P型重掺杂引出区(7),P型重掺杂引出区(7)与N型重掺杂源区(6)和P阱(4)相接触,并穿过P型外延层(2)与P型衬底(1)相接触;在P阱(4)上形成有栅氧化层(8),且栅氧化层(8)的两个边界分别位于N型重掺杂源区(6)的边界及N型轻掺杂漏区(3)的边界上方,在栅氧化层(8)的表面形成有多晶硅栅(9);在P型重掺杂引出区(7)和N型重掺杂源区(6)上连接有源极金属(11),在N型重掺杂漏区(5)上连接有漏极金属(12),源极金属(11)和漏极金属(12)分别通过场氧(10)与多晶硅栅(9)相隔离,其特征在于,所述栅氧化层(8)为阶梯状,在栅氧化层(8)的下方设有N型掺杂区(13)且所述N型掺杂区(13)位于P阱(4)中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510021811.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top