[发明专利]太赫兹吸收谱的测试样品架、切换式测试系统和测试方法有效

专利信息
申请号: 201510023233.8 申请日: 2015-01-16
公开(公告)号: CN104614315B 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 张朝晖;赵小燕;张天尧;张寒 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3586
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司11237 代理人: 张仲波
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种太赫兹吸收谱的测试样品架、切换式测试系统和测试方法。用于解决现有的太赫兹吸收谱测量方法所存在的由于太赫兹波强度的起伏造成测试所得的样品吸收谱的重复性、一致性差的问题。本发明提供的测试样品架包括可旋转的转盘,所述转盘开有大小一致的样品孔和参考孔,样品孔和参考孔中心均位于以转盘的旋转轴为中心的同一圆周上;所述样品孔用于放置待测试的样品。上述测试样品架用于太赫兹吸收谱测试系统中,结合切换式测试流程,可以通过转动样品架上的转盘,交替地测取参考时域谱、样品时域谱上各点,由于参考时域谱和样品时域谱同步交叉测得,太赫兹波起伏的影响会在一定程度上被抵消,改善了吸收谱的重复性,提高了一致性。
搜索关键词: 赫兹 吸收 测试 样品 切换 系统 方法
【主权项】:
一种太赫兹吸收谱的切换式测试系统,包括:飞秒激光器、分光镜、发射器、两个离轴抛物面镜、样品架、光程调节台、反射镜、探测器、锁相放大器和计算机,其特征在于,所述样品架为太赫兹吸收谱的测试样品架;其中,所述测试样品架包括:可旋转的转盘,所述转盘开有大小一致的样品孔和参考孔,所述样品孔和参考孔中心均位于以所述转盘的旋转轴为中心的同一圆周上;所述样品孔用于放置待测试的样品;其中,所述测试样品架还包括可升降支座和步进电机;所述可升降支座具有一个高度可调节的支座平台;所述步进电机设置于所述可升降支座的支座平台上,所述步进电机具有一可旋转的输出轴;所述转盘的中心具有一与所述步进电机的输出轴的截面形状一致的开孔,所述步进电机的输出轴嵌套于所述转盘的中心开孔内,所述转盘与所述步进电机的输出轴固定连接,所述转盘能以该输出轴为中心随所述步进电机的输出轴作旋转运动;其中,所述转盘上的样品孔和参考孔在以所述转盘的旋转轴为中心的同一圆周上对称设置;且所述样品架的转盘位置设置为:所述转盘旋转过程中,所述发射器发出的太赫兹波经所述离轴抛物面镜汇聚后的光束刚好穿过所述样品孔和参考孔所处圆周上;其中,所述光程调节台的步进周期TS,所述转盘旋转过程中样品孔到参考孔的切换时间T1,参考孔到样品孔的切换时间T2,发射器的方波偏置电压周期Tb,飞秒激光器的激光脉冲重复周期Tr,锁相放大器时间常数Tp之间满足以下关系:TS=T1+T2Min(T1,T2)>>TbTb>>TrTp<3Min(T1,T2)其中,Min(T1,T2)表示T1和T2二者的最小值。
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