[发明专利]一种高品质因数的发射线圈结构及其绕制方法有效
申请号: | 201510026889.5 | 申请日: | 2015-01-15 |
公开(公告)号: | CN105845404B | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 钟霞 | 申请(专利权)人: | 宁波微鹅电子科技有限公司 |
主分类号: | H01F38/14 | 分类号: | H01F38/14;H01F27/28;H01F27/32;H01F27/36;H01F41/064;H01F41/12;H02J50/10 |
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地址: | 315200 浙江省宁*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种高品质因数的发射线圈结构及其绕制方法,所述发射线圈包括线圈、贴合于线圈的绝缘层和贴合于绝缘层的屏蔽层,其中线圈由稀疏缠绕的M匝绕线和紧密缠绕的N匝绕线组成,所述M匝绕线匝与匝之间的间距大于所述N匝绕线匝与匝之间的间距,且M<N。本发明的线圈绕制方式可以减小线圈的临近效应,降低损耗,并且可以减小发射线圈的磁场盲区范围,从而使得发射线圈的品质因数大大提高,并且,在发射线圈的周围可产生均匀的磁场分布,能够更有效地传输能量。 | ||
搜索关键词: | 一种 品质因数 发射 线圈 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种高品质因数的发射线圈结构,包括平面线圈、贴合于平面线圈的绝缘层和贴合于绝缘层的屏蔽层,其特征在于,所述平面线圈包括位于内层的M匝绕线和位于M匝绕线外侧的N匝绕线,其中,所述M匝绕线匝与匝之间的间距大于所述N匝绕线匝与匝之间的间距,并且M<N;其中,所述M匝绕线之间的间距设置为1cm至20cm之间的一个值, 所述N匝绕线之间的间距设置为0cm至1cm之间的一个值。
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