[发明专利]板弯量测装置和其板弯量测方法有效
| 申请号： | 201510027433.0 | 申请日： | 2015-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN105865359B | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 余良彬;潘映霖;林际扬 | 申请（专利权）人： | 德律科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 王正茂;丛芳 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种板弯量测装置和其板弯量测方法，板弯量测方法用于量测待测物体，待测物体置于测量载具上。板弯量测方法包含：将图像投射在待测物体上，其中图像包含多个参考点；通过取像模块撷取图像投射于待测物体时的量测影像，其中量测影像包含多个量测点分别对应参考点；将量测点中的每一量测点在该量测影像的位置通过对应参考点中的每一参考点的转换函数计算以得到该待测物体在对应量测点的位置的高度；及根据测物体在对应量测点的位置的高度补偿待测物体的板弯情况。依此，可得到待测物体对应的量测点的高度，快速地进行光学焦段补偿，且可由数码投影方式变换参考点图样，借此根据局部参考点位置得知局部板弯，作相对应的高度补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 板弯量测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种板弯量测方法，用于量测待测物体，其特征在于，所述待测物体置于测量载具上，所述板弯量测方法包含：将图像投射在所述待测物体上，其中所述图像包含多个参考点；通过取像模块撷取所述图像投射于所述待测物体时的量测影像，其中所述量测影像包含多个量测点分别对应所述多个参考点；将所述多个量测点中的每一量测点在所述量测影像的位置通过对应所述多个参考点中的每一参考点的转换函数计算以得到所述待测物体在对应所述多个量测点的位置的高度；及根据所述待测物体在对应所述多个量测点的位置的高度产生对应所述待测物体的板弯补偿影像，借以补偿所述待测物体的板弯情况。
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