[发明专利]一种基于硅基液晶的偏振检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于硅基液晶的偏振检测系统及方法，所述偏振检测系统包括检偏器、光探测器、硅基液晶驱动模块、控制单元和用于相位调制的硅基液晶，硅基液晶在硅基液晶驱动模块的驱动下对待测光进行相位调节，获取一系列偏振光，通过对这一系列偏振光的分析获取待测光的偏振信息，包括竖直方向与水平方向的振幅及相位差。本发明的系统在精确可编程控制下，进行偏振态检测与控制，不受类似于波片的波长敏感性制约；且本发明采用硅基液晶进行相位调制，响应时间得到显著优化；同时还具有光偏振态检测与控制一体化实现的特点，具有广泛的应用场景。

主权项

一种基于硅基液晶的偏振检测系统，其特征在于，所述偏振检测系统包括硅基液晶、硅基液晶驱动模块、检偏器、光探测器和控制单元；所述硅基液晶、所述检偏器和所述光探测器依次置于待测光束的直线方向上,均设置于所述待测光束的准直范围内；所述硅基液晶的控制端连接硅基液晶驱动模块的输出端，所述硅基液晶驱动模块的输入端连接所述控制单元的输出端，所述控制单元的输入端连接所述光探测器的输出端；所述硅基液晶接收入射的待测光，在所述硅基液晶驱动模块的控制下对所述待测光进行连续的相位调制，获得第一光束，所述检偏器滤除所述第一光束中与检偏器通光方向垂直方向上的光后获得第二光束；所述光探测器探测所述第二光束的强度，获得系列光强值；并对所述系列光强值进行光电转换后反馈给所述控制单元；所述控制单元根据接收到的数据获得相位与光强曲线、并识别所述相位与光强曲线上的两个波谷点；根据所述波谷点获得偏振态中的P光与S光的准确相位差；并根据所述相位差、以及相位与光强曲线上任意两点的光强度值与加载相位获得两偏振分量的振幅。