[发明专利]一种窗扫描热成像缺陷检测和层析成像方法及系统有效
申请号: | 201510034897.4 | 申请日: | 2015-01-25 |
公开(公告)号: | CN104535616B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 何赟泽;杨瑞珍 | 申请(专利权)人: | 何赟泽 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410000 湖南省长沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种窗扫描热成像缺陷检测和层析成像方法及系统。系统工作时,热源和热像仪以固定速度扫描被检对象,热源对被检对象进行加热,热像仪记录被检对象表面加热之后随时间变化的温度信息作为原始数据;对原始数据进行重构,获得被检对象每个点的温度变化序列作为检测信号;采用或产生特定信号作为参考信号;对检测信号与参考信号进行时域、频域和互相关等方法处理,提取时域特征值、频域特征值、互相关幅值特征值和互相关相位特征值等,实现缺陷检测和层析成像。该方法及系统可应用于航空航天、新材料、石油化工、核电、铁路、汽车、特种设备、机械、冶金、土木建筑等领域的装备无损检测、材料表征评估和产品质量控制。 | ||
搜索关键词: | 一种 扫描 成像 缺陷 检测 层析 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种窗扫描热成像缺陷检测和层析成像系统,其特征在于,包括:控制器、热源控制模块、扫描模块、热像仪、热源、被检对象、计算机、数据重构模块、检测信号提取模块、参考信号设定模块、时域算法模块、频域算法模块、互相关算法模块、缺陷检测和层析成像模块,热源是热风源、闪光灯源、红外光源、激光源、微波源或超声波源,形状是线源或面源;热源和热像仪以固定速度扫描被检对象,在扫描过程中,热源对被检对象进行加热,热像仪记录被检对象表面加热之后随时间变化的温度信息作为原始数据;对原始数据进行重构,获得被检对象每个点的温度变化序列作为检测信号;采用或产生特定信号作为参考信号;对检测信号与参考信号进行时域、频域和互相关处理,提取时域特征值、频域特征值、互相关幅值特征值和互相关相位特征值,实现缺陷检测和层析成像;对检测信号进行主成分分析和独立成分分析处理,把得到的主成分和独立成分作为特征值成像,增强缺陷检测效果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于何赟泽,未经何赟泽许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510034897.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。