[发明专利]激光跟踪仪测量基准立方镜中心点位置的精测方法有效

专利信息
申请号: 201510037500.7 申请日: 2015-01-26
公开(公告)号: CN104596420B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 任春珍;刘浩淼;王伟;易旺民;马强;万毕乐;郭洁瑛;闫荣鑫;段晨旭;刘笑;阮国伟;陶力 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基准立方镜中心位置的精测方法,利用激光跟踪仪测量系统实现对立方镜中心位置的测量,该方法在飞船二期型号中得到了充分的验证。具体方法是通过激光跟踪仪及标准配置的0.5″的小靶镜,对基准立方镜的三个正交面进行点位测量,利用最小二乘拟合计算每个面的平面,再通过三个正交面平移拟合计算成三个坐标系,坐标原点即为所要的基准立方镜中心位置。本发明完全取代了用经纬仪测量基准立方镜中心位置的方法,满足在10m范围内测量基准立方镜中心位置精度在0.07mm的精度,测量精度受仪器摆放的位置的影响小,测量精度稳定,精度高,速度快,大大提高了测量效率。
搜索关键词: 激光 跟踪 测量 基准 立方 中心点 位置 方法
【主权项】:
一种激光跟踪仪测量航天器基准立方镜中心点位置的精测方法,包括如下步骤:1)根据被测量基准立方镜的位置,调节激光跟踪仪架设的高度并固定位置;2)激光跟踪仪测量系统进行联机预热30分钟,启动电脑进入 激光跟踪仪标校程序,利用激光跟踪仪1.5″测量靶球、1.5″的平面底座进行前视/后视精度标定和补偿;3)退出标校菜单,进入 Spatial Analyzer软件测量系统,进行选型联机,并选择点测量菜单;4)用IFM干涉测量,选择激光跟踪仪激光跟踪仪0.5″测量靶球在立方镜的三个正交面上分别均匀选择不低于5个测量点,测量顺序按照逆时针测量方式;5)选取符合右手法则的方式,构造平面,偏移量选取向下偏移激光跟踪仪0.5″测量靶球的半径尺寸,分别对应定义为A面、B面、C面;6)选取构造坐标系的方式为用三个正交面来构造坐标系,将A面、B面、C面拟合成坐标系,偏移量选取立方镜长度的二分之一,最终得到由三个正交面构造的坐标系设为基准立方镜坐标系;7)基准立方镜坐标系的原点坐标值即为激光跟踪仪测量的基准立方镜中心点位置。
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