[发明专利]磁场测量装置在审
| 申请号： | 201510040941.2 | 申请日： | 2015-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN104820195A | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 高桥智 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01R33/022 | 分类号： | G01R33/022;G01R33/032 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张莉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够去除光学噪声的影响的磁场测量装置。气室(1、2)分别使第1检测光、第2检测光透射，并使直线偏振光的偏振面根据磁场而旋转。第1检测部(41)与第2检测部(42)检测透射了气室(1、2)的直线偏振光的偏振面。第3检测部(43)与第4检测部(44)检测没有透射气室(1、2)的直线偏振光的偏振面。测量部(6)利用第1检测部(41)和第3检测部(43)的检测结果，去除第1检测光中的光学噪声的影响，利用第2检测部(42)和第4检测部(44)的检测结果，去除第2检测光中的光学噪声的影响，由此测量气室(1、2)中的磁场之差。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种磁场测量装置，其特征在于，具有：第1介质，使来自第1光源的光透射，并使直线偏振光的第1偏振面根据磁场的强度而旋转；第2介质，使来自第2光源的光透射，并使直线偏振光的第2偏振面根据磁场的强度而旋转；第1检测部，检测透射了上述第1介质的上述直线偏振光的上述第1偏振面；第2检测部，检测透射了上述第2介质的上述直线偏振光的上述第2偏振面；第3检测部，检测未透射上述第1介质的来自上述第1光源的上述直线偏振光的第3偏振面；第4检测部，检测未透射上述第2介质的来自上述第2光源的上述直线偏振光的第4偏振面；和测量部，利用上述第3检测部的检测结果，从上述第1检测部的检测结果中去除光学噪声，并且利用上述第4检测部的检测结果，从上述第2检测部的检测结果中去除光学噪声，利用分别去除了上述光学噪声的上述第1检测部以及上述第2检测部的检测结果，测量上述第1介质中的磁场与上述第2介质中的磁场之差。
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