[发明专利]一种存储设备坏块的处理方法、装置及存储设备有效
| 申请号： | 201510041961.1 | 申请日： | 2015-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN104615550B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 辜多艮 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储设备坏块的处理方法、装置及存储设备，涉及通信终端领域，用于解决存储设备的使用过程中，IOPS稳定性差的问题。本发明提供的具体实施例应用于存储设备，且存储设备配置有：用户数据区、超供区、预留区，其中用户数据区和超供区用于实际存储用户数据，预留区包括预留块；当用户数据区出现坏块时，检测坏块类型，并为坏块在预留区中申请替换预留块，进而按照坏块类型，将申请到的替换预留块替换掉这一坏块。本发明提供的技术方案适用于存储设备对坏块的处理流程中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 设备 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储设备坏块的处理方法，所述方法应用于存储设备，其特征在于，所述存储设备配置有：用户数据区、超供区、预留区，所述用户数据区用于存储用户数据，所述超供区用于为所述用户数据提供缓存,所述超供区用于通过超供技术来提高所述存储设备生命周期内的每秒进行读写操作的次数IOPS稳定性，所述预留区包括预留块；所述方法包括：当所述用户数据区出现坏块时，检测所述坏块的坏块类型，所述坏块类型包括：读写坏块和擦失败坏块；在所述预留区中为所述坏块申请替换预留块，所述替换预留块与所述坏块大小相同；按照所述坏块的坏块类型，用所述替换预留块替换所述坏块，以使得所述超供区在所述存储设备使用中保持存储空间不变。
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