[发明专利]消除静电的测试方法有效
| 申请号： | 201510046151.5 | 申请日： | 2015-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN104614664B | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 柯明道;庄哲豪 | 申请（专利权）人： | 晶焱科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05F3/02 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种消除静电的测试方法，其利用一测试设备进行，该测试设备包含一测试器与一平台。首先，执行至少一测试流程，在测试流程中，测试设备上产生有静电电荷。在测试流程中，测试器接触并测试位于平台的一测试区域上的至少一测试集成电路(IC)。接着，将测试集成电路移离测试器与测试区域。结束测试流程后，移动接地的一导电装置至测试区域，使测试器接触导电装置，以释放静电电荷至接地端。接着，将导电装置移离测试器与测试区域。最后，返回至测试流程，以测试下一测试集成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 消除 静电 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种消除静电的测试方法，其利用一测试设备进行，该测试设备包含一测试器与一平台，该测试器包含多个探针，其特征在于，该消除静电的测试方法包含下列步骤：执行至少一测试流程，在该测试流程中，该测试设备上产生有静电电荷，该测试流程还包含下列步骤：该测试器接触并测试位于该平台的一测试区域上的至少一测试集成电路，该测试器中的该多个探针分别接触该测试集成电路的多个接脚；以及将该测试集成电路移离该测试器与该测试区域；移动接地的一导电装置至该测试区域，该导电装置还包含接地的多个接脚，该导电装置为消除集成电路，且该消除集成电路中的多个接脚分别作为该导电装置的该多个接脚，该导电装置中的该多个接脚与该测试集成电路中的该多个接脚的数量与位置都相同；该测试器接触该导电装置，该测试器中的该多个探针分别接触该导电装置中的该多个接脚，以释放该静电电荷至接地端；将该导电装置移离该测试器与该测试区域；以及返回至该测试流程，以测试下一该测试集成电路。
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