[发明专利]一种LTE系统中测量结果动态过滤方法和系统

摘要

本发明涉及一种LTE系统中测量结果动态过滤方法和系统，所述方法包括：步骤S101，针对LTE系统中的RSRP测量结果，按照如下公式对测量结果进行过滤：F_n＝(1‑a)×F_n‑1+a×M_n，其中，k∈[0,19]，“<<”为整数左移运算符；F_n为本次过滤后的测量结果，F_n‑1为上次过滤后的测量结果，M_n为当前测量的结果，a为调整参数，v为修正参数；步骤S102，当测量周期为200ms时，v＝1；步骤S103，当测量周期小于200ms时，根据测量周期的变小将v值变大；步骤S104，当测量周期大于200ms时，根据测量周期的变大将v值变小。本发明通过动态调整过滤公式中的参数，使得不同测量周期下经过一段时间的测量，过滤结果尽量接近。

主权项

1.一种LTE系统中测量结果动态过滤方法，其特征在于，包括：步骤S101，针对LTE系统中的RSRP测量结果，按照如下公式对所述测量结果进行过滤：F_n＝(1‑a)×F_n‑1+a×M_n，其中，k∈[0,19]，其中：“<<”为计算机整数左移运算符，F_n为本次过滤后的测量结果，F_n‑1为上一次过滤后的测量结果，M_n为当前测量到的结果，a为调整参数，k为网络配置过滤参数，v为修正参数；步骤S102，当测量周期为200ms时，v＝1，不对过滤结果进行修正；步骤S103，当测量周期小于200ms时，根据测量周期的变小将v值变大，相应地，a值减小，即削弱本次测量结果的影响，当测量周期小于200ms时，以测量周期与200ms的时间差作为线性系数对v进行修正；步骤S104，当测量周期大于200ms时，根据测量周期的变大将v值变小，相应地，a值增大，即增强本次测量结果的影响，当测量周期大于200ms时，以测量周期与200ms的时间差作为负倒数对v进行修正；在步骤S103和步骤S104中，用分段长度T对所述线性系数和负倒数进行负倒数变化，T为将整个有效测量周期的范围进行均分后的每一分段的时长，在步骤S103，当测量周期小于200ms时，通过如下方式对v进行修正：v＝n×c，在步骤S104，当测量周期大于200ms时，通过如下方式对v进行修正：其中，t为本次测量周期，T为将整个有效测量周期的范围进行均分后的每一分段的时长，c为经验常量，通过如下方式确定c：先假定一c值，然后根据T的取值进行a的计算，确定最接近合适的T，然后对c进行调整，根据计算得出的a确定c值。