[发明专利]图像检查装置及图像检查方法在审
| 申请号： | 201510047796.0 | 申请日： | 2015-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN105987916A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 前田学 | 申请（专利权）人： | 三垦电气株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 陶海萍 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种图像检查装置和图像检查方法，该图像检查装置包括：复数个光源，其在以所述半导体装置的引线及延长线为轴的周向方向上围绕所述轴而设置，用于从不同方向朝所述半导体装置的引线前端照射光，其中，所述复数个光源照射的光具有多种不同的颜色；图像获取部，其配置在与所述半导体装置的引线前端对置的位置，用于接收从所述半导体装置的引线前端反射的光以形成图像；图像处理部，对所述图像获取部形成的图像进行处理，以获得所述半导体装置的引线的检查结果。根据本发明实施例，能够充分的检查半导体装置的引线。 | ||
| 搜索关键词： | 图像 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种图像检查装置，用于对半导体装置的引线进行检查，其特征在于，所述图像检查装置具有：复数个光源，其在以所述半导体装置的引线及延长线为轴的周向方向上围绕所述轴而设置，用于从不同方向朝所述半导体装置的引线前端照射光，其中，所述复数个光源照射的光具有多种不同的颜色；图像获取部，其配置在与所述半导体装置的引线前端对置的位置，用于接收从所述半导体装置的引线前端反射的光以形成图像；以及图像处理部，对所述图像获取部形成的图像进行处理，以获得所述半导体装置的引线的检查结果。
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