[发明专利]用于利用离子淌度谱测量离子的碰撞截面的快速方法有效
| 申请号： | 201510050582.9 | 申请日： | 2015-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN104820009B | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | A·莫德海;R·T·库鲁拉加马;C·克莱因;J·弗杰尔德斯泰德 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在此公开用于利用离子淌度谱测量离子的碰撞截面的快速方法。可以通过测量样本离子耗费于行进通过离子淌度谱漂移单元到达离子检测器的总漂移时间来计算所述样本离子的碰撞截面(CCS)。可以基于所测量的总漂移时间以及定义所述样本离子耗费于行进通过漂移单元与检测器之间的淌度支配区域的时间的比例系数来计算CCS。可以根据测量基准离子的总漂移时间来确定所述比例系数。计算所述样本离子的CCS还基于定义所述样本离子耗费于行进通过淌度独立区域的时间的比例系数，在所述淌度独立区域中，所述离子的速度取决于所述离子的静电场强度、质量和电荷状态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 利用 离子 淌度谱 测量 碰撞 截面 快速 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量样本离子的碰撞截面(CCS)的方法，所述方法包括：测量所述样本离子从离子淌度谱漂移单元的入口行进到所述漂移单元的出口外部的离子检测器所耗费的总漂移时间；以及根据以下公式计算所述样本离子的CCS：Ω＝(tD‑tfix)/βγ，其中，Ω是CCS，tD是所测量的总漂移时间，tfix是固定延迟时间参数，β是所述样本离子行进通过所述漂移单元并且通过所述漂移单元外部的淌度依赖区域所耗费的漂移时间有关的比例系数，γ＝(mI/(mI+mB))1/2/q，其中，mI是所述样本离子的质量，mB是所述漂移单元中的漂移气体分子的质量，q是所述样本离子的电荷状态，且其中通过以下步骤来确定两个参数tfix和β：从一组具有已知CCS(基准CCS)的基准离子获取基准数据点(γΩ，tD)，以及对基准数据点的图线执行简单线性回归。
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