[发明专利]一种LED芯粒的筛选方法在审
| 申请号： | 201510051000.9 | 申请日： | 2015-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN104646314A | 公开（公告）日： | 2015-05-27 |
| 发明（设计）人： | 刘军林;陶喜霞;江风益 | 申请（专利权）人： | 南昌大学;南昌黄绿照明有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;G01N21/64;H01L21/66 |
| 代理公司： | 江西省专利事务所 36100 | 代理人： | 张文 |
| 地址： | 330047 *** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED芯粒的筛选方法，特别适用于筛除在光电参数测试后的加工过程中（包括衬底减薄、晶圆切割以及自动分选等）所产生的正向漏电不良的LED芯粒。它通过激发光源和激发滤光片获得固定波段的激发光照射在待测LED芯粒上，然后通过阻断滤光片和光学显微镜观察分析LED芯粒的荧光图像的强度和颜色分布，正常LED芯粒和正向漏电流不良LED芯粒会出现不同的荧光强度和颜色差异，从而可筛除不合格LED的芯粒。这种方法直观、方便、分辨率高、成本低，且无需接触LED芯粒，不会造成芯粒的二次损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 筛选 方法 | ||
【主权项】：
一种LED芯粒的筛选方法，其特征在于：先通过激发光源发出激发光，在后续光路中置有激发滤光片，激发滤光片过滤激发光以获得固定波段的激发光，再将该激发光照射在待测的LED芯粒上来激发LED芯粒，然后通过LED芯粒正上方的阻断滤光片和光学显微镜观察LED芯粒的荧光图像，即可得正向漏电合格的LED芯粒，筛除正向漏电不合格LED芯粒；向漏电合格即当LED芯粒电极两端的电压为1.8V时，正向电流小于1uA；反之，则正向漏电不合格。
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