[发明专利]一种子孔径SAR大斜视改进Omega‑K成像方法

摘要

本发明属于SAR成像技术领域，特别涉及一种子孔径SAR大斜视改进Omega‑K成像方法，其具体步骤为(1)对原始回波数据进行距离向傅里叶变换；(2)对信号进行距离匹配滤波处理，并乘以旋转校正函数，实现波数谱支撑区的正侧化处理；(3)对信号进行方位向傅里叶变换，在二维波数域进行方位重采样插值；(4)对信号乘以统一相位补偿函数，并进行扩展Stolt插值，然后通过距离逆傅里叶变换实现距离向的空间位置域聚焦；(5)对信号乘以去斜校正函数，并进行方位逆傅里叶变换，在方位空间位置域乘以方位位置校正函数，最后再通过方位傅里叶变换，实现方位向的波数域聚焦。本发明应用范围广泛，可实现较高分辨率成像，可用于地图测绘，目标识别等领域。

主权项

一种子孔径SAR大斜视改进Omega‑K成像方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，利用机载合成孔径雷达发射线性调频信号，利用机载合成孔径雷达接收对应的回波信号；对回波信号进行解调，得到解调后的基带回波信号其中，为机载合成孔径雷达距离向位置变量，X为机载合成孔径雷达方位向位置变量，R0为机载合成孔径雷达波束中心扫过场景中心点时的斜距；对基带回波信号进行距离向傅里叶变换，得出距离波数域方位空间位置域信号S1(Kr，X)，Kr为机载合成孔径雷达距离波数变量；步骤2，将距离波数域方位空间位置域信号S1(Kr，X)进行距离向匹配滤波处理，得出距离匹配滤波后信号S2(Kr，X)；步骤3，将距离匹配滤波后信号S2(Kr，X)乘以旋转校正函数HLRWC(Kr，X)，得出旋转校正后信号S3(Kr，X)，其中，旋转校正函数HLRWC(Kr，X)＝exp[‑jKrXsinθ0]，θ0为机载合成孔径雷达的波束中心斜视角；步骤4，对旋转校正后信号S3(Kr，X)进行方位向傅里叶变换，得到二维波数域信号S4(Kr，Kx)，Kx为机载合成孔径雷达方位波数变量；步骤5，将R0＝R0′‑Xnsinθ0代入二维波数域信号S4(Kr，Kx)的表达式中，得出第一次形式变换后的二维波数域信号S5(Kr，Kx)；令Kx′=[(Krsinθ0+Kx)·cosθ0-Kr2-(Krsinθ0+Kx)2·sinθ0]·cosθ0;]]>将Kx′的表达式代入第一次形式变换后的二维波数域信号S5(Kr，Kx)的表达式中，得出第二次形式变换后的二维波数域信号S6(Kr，Kx′)；R0′表示二维波数谱支撑区被扳正后机载合成孔径雷达波束中心扫过场景中心点时的斜距，Xn为点目标相对场景中心点的方位位置；步骤6，对二维波数域信号S6(Kr，Kx′)依次进行相位补偿、Stolt插值处理、距离向逆傅里叶变换、去斜处理、方位向逆傅里叶变换、方位波数域聚焦成像，得出最终SAR聚焦成像结果。