[发明专利]一种图像处理类IP的可约束随机验证方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510053443.1 申请日: 2015-02-02
公开(公告)号: CN104615537B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 李仙辉 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06T1/00
代理公司: 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙)35219 代理人: 林祥翔,吕元辉
地址: 350003 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了一种图像处理类IP的可约束随机验证方法和装置,其特征在于,所述方法包括步骤参数配置模块对参数进行约束;参数生成模块生成待测电路的配置参数,按照受约束随机方案生成测试用例,并将测试用例发送给待测电路和参考模型模块;待测电路接收参数生成模块生成的随机测试用例,并输出该测试用例对应的测试结果;参考模型模块接收参数生成模块生成的随机测试用例,并输出该测试用例对应的模拟结果;校验模块将该测试用例对应的测试结果和模拟结果进行比对。解决了在对图像数据进行处理验证时,测试工作量大、效率低下、风险高、测试用例无法全面覆盖所有图像处理情况的问题。
搜索关键词: 一种 图像 处理 ip 约束 随机 验证 方法 装置
【主权项】:
一种图像处理类IP的可约束随机验证方法,其特征在于,包括步骤:参数配置模块对参数进行约束;参数生成模块生成待测电路的配置参数,按照受约束随机方案生成测试用例,并将测试用例发送给待测电路和参考模型模块;所述步骤“参数生成模块生成待测电路的配置参数”具体包括:参数生成模块以时间为种子随机生成待测电路的配置参数;待测电路接收参数生成模块生成的随机测试用例,并输出该测试用例对应的测试结果;参考模型模块接收参数生成模块生成的随机测试用例,并输出该测试用例对应的模拟结果;校验模块将该测试用例对应的测试结果和模拟结果进行比对;覆盖率统计收集模块对参数生成模块生成的测试用例进行统计,并判断参数生成模块生成的测试用例是否已经全部覆盖参数生成模块所能生成的全部测试用例,若是则参数生成模块结束生成待测电路的配置参数,否则参数生成模块随机生成配置参数;控制分析模块在校验模块判定测试用例对应的测试结果和模拟结果不一致后,输出该测试用例。
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