[发明专利]一种半透明薄膜材料瞬态吸光度测量装置与方法

摘要

一种半透明薄膜材料瞬态吸光度测量装置与方法属于光电测量技术领域；本发明将现有透明材料吸光度测量装置结构与非透明材料吸光度测量装置结构相结合，并基于入射光强等于透射光强、反射光强与吸收光强之和的原理，将硅放大器D1和硅放大器D2的输出结果在加法器中加和，并在计算机中进行运算，最终实现对薄膜材料瞬态吸光度进行测量；本发明不仅具有现有技术中测量透明材料和非透明材料吸光度的功能，而且还具有现有技术所不具有的测量半透明材料吸光度的功能。

主权项

一种半透明薄膜材料瞬态吸光度测量装置，其特征在于，包括飞秒激光器，所述飞秒激光器的出射光路分成三束，分别为泵浦光、探测光和参考光；所述的泵浦光从分束片BS1透射，依次经过二分之一玻片H1透射，偏振片P1透射，介质膜反射镜M1反射，介质膜反射镜M2反射，BBO晶体透射后，入射到斩波器C，经过斩波器C调制后的光束再经过介质膜反射镜M3反射，二向色镜DM反射，分束片BS4透射，透镜L1汇聚后，入射到样品S表面；所述的介质膜反射镜M1与介质膜反射镜M2沿飞秒激光器出射光路所在方向运动；探测光从分束片BS1反射，依次经过分束片BS2反射，二分之一玻片H2透射，偏振片P2透射，介质膜反射镜M4反射，介质膜反射镜M5反射，二向色镜DM透射，分束片BS4透射，透镜L1汇聚后，入射到样品S表面，从样品S透射的光束经过透镜L2准直后，进入硅放大器D1的第一路接收端；从样品S反射的光束再依次经过透镜L1准直，分束片BS4反射，介质膜反射镜M7反射，进入硅放大器D2的第一路接收端；参考光从分束片BS1反射，分束片BS2透射，入射到分束片BS3上，分束片BS3的反射光路进入硅放大器D1的第二路接收端；分束片BS3的透射光路经介质膜反射镜M6反射，偏振片P3透射，进入硅放大器D2的第二路接收端；所述的硅放大器D1和硅放大器D2的光电转换结果依次经过加法器、预放大器、锁相放大器后，传输给计算机。