[发明专利]检测半圆孔直径和深度的检具及第一、第二、第三子检具

摘要

本发明公开了一种检测半圆孔直径和深度的检具及第一、第二、第三子检具，包括第一子检具、第二子检具和第三子检具；第一子检具包括第一基体和第一测量体，第一基体的两侧肩上分别设有第一刀口，第一测量体的直径为被测半圆孔直径的极小值d，高度为被测半圆孔深度的极大值c；第二子检具包括第二基体和第二测量体，在第二测量体的半圆弧面上设有第二刀口，第二测量体的直径为被测半圆孔直径的极小值d，高度为被测半圆孔深度的极小值e；第三子检具包括第三基体和第三测量体，在第三测量体的半圆弧面的中部设有第三刀口，第三测量体的直径为被测半圆孔直径的极大值f，高度为被测半圆孔深度的极大值c；本发明能够快速、直接、准确地判断出半圆孔的直径和深度是否合格。

主权项

1.一种检测半圆孔直径和深度的检具，其特征在于：包括第一子检具、第二子检具和第三子检具；所述第一子检具包括第一基体（1）以及连接在第一基体（1）中部的第一测量体（2），该第一基体（1）在朝向第一测量体（2）的两侧肩上分别设有第一刀口（1a），第一测量体（2）整体呈近似半圆体，其与第一基体（1）连接的一端为平面，另一端为半圆弧面，且第一测量体（2）的直径为被测半圆孔（9a）直径的极小值d，高度为被测半圆孔（9a）深度的极大值c；所述第二子检具包括第二基体（5）以及连接在第二基体（5）中部的第二测量体（6），第二测量体（6）整体呈近似半圆体，其与第二基体（5）连接的一端为平面，另一端为半圆弧面，在半圆弧面上设有第二刀口（6a），且第二测量体（6）的直径为被测半圆孔（9a）直径的极小值d，高度为被测半圆孔（9a）深度的极小值e；所述第三子检具包括第三基体（7）以及连接在第三基体（7）中部的第三测量体（8），第三测量体（8）整体呈近似半圆体，其与第三基体（7）连接的一端为平面，另一端为半圆弧面，在半圆弧面的中部设有第三刀口（8a），第三测量体（8）的直径为被测半圆孔（9a）直径的极大值f，高度为被测半圆孔（9a）深度的极大值c。