[发明专利]电子元件测试分类设备

摘要

本发明提供一种电子元件测试分类设备，有供料装置、收料装置、测试装置及输送装置，该供料装置容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件，收料装置容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置设于测试区的上方，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂系自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂则自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性接点朝上的方式与测试装置电性连接并执行测试作业，完测后再将电子元件移载至第二交换区，由出料移载臂自上方将电子元件移载至收料装置，并执行分类作业。

主权项

1.一种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有：机台：设有测试区及复数个交换区，该测试区的第一侧下方及第二侧下方分别设有第一交换区及第二交换区，该测试区的第一侧上方及第二侧上方分别设有第三交换区及第四交换区；供料装置：设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件；收料装置：设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件；测试装置：架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业；输送装置：设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂、第一测试移载臂及第二测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区及该第三交换区，该第一测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该第二测试移载臂则移动于该机台的第三交换区、测试区及第四交换区之间，该第一测试移载臂及第二测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂分别自第二交换区及第四交换区将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。