[发明专利]检测电路接合可靠度的布局结构

摘要

一种检测电路接合可靠度的布局结构，其包含基板(81)、电子元件(2)、第一走线(31)、第二走线(32)及柔性电路板(40)，基板(81)包含多个接合垫，电子元件包含一测试脚位(20)，测试脚位包含多个接合区，该些接合区接合在接合垫并且形成多个接合位置；第一走线与第二走线位于基板上，连接在这些接合垫之间；及柔性电路板包含多个柔性走线，该些柔性走线与该些接合垫连接并且形成多个连接位置；其中，该些接合位置、第一走线、第二走线、该些连接位置用于检测电子元件的接合可靠度。实施本发明检测电路接合可靠度的布局结构的有益效果是，即使在电路焊接完毕后，也能正确测量电子元件是否正确接合在基板上。

主权项

1.一种检测电路接合可靠度的布局结构，其特征在于，包含：基板(81)，包含第一接合垫(11)、第二接合垫(12)、第三接合垫(13)及第四接合垫(14)；电子元件(2)，其包含一测试脚位(20)，该测试脚位(20)包含第一接合区(21)及第二接合区(22)，第一接合区(21)与第一接合垫(11)接合并且形成第一接合位置(51)，第二接合区(22)与第三接合垫(13)接合并且形成第二接合位置(52)；第一走线(31)，位于基板(81)上，并且连接在第一接合垫(11)及第二接合垫(12)之间；第二走线(32)，位于基板(81)上，并且连接在第三接合垫(13)及第四接合垫(14)之间；以及柔性电路板(40)，包含第一柔性走线(41)与第二柔性走线(42)，第一柔性走线(41)与第二接合垫(12)连接并且形成第一连接位置(61)，第二柔性走线(42)与第四接合垫(14)连接并且形成第二连接位置(62)；其中，第一接合位置(51)、第二接合位置(52)、第一走线(31)、第二走线(32)、第一连接位置(61)及第二连接位置(62)用于检测该电子元件(2)的接合可靠度；所述基板(81)包含：第五接合垫(15)以及第六接合垫(16)，第五接合垫(15)与第六接合垫(16)连接；所述柔性电路板(40)包含：第三柔性走线(43)以及第四柔性走线(44)，第三柔性走线(43)连接第五接合垫(15)以形成第三连接位置(63)，第四柔性走线(44)连接第六接合垫(16)以形成第四连接位置(64)，第三连接位置(63)与第四连接位置(64)的总阻值为第一连接位置(61)与第二连接位置(62)的总阻值；经由所述第一连接位置(61)与所述第二连接位置(62)形成的回路为第一测试位置(71)，经由所述第三连接位置(63)与所述第四连接位置(64)形成的回路为第二测试位置(72)；所述第一测试位置(71)所测得的阻值及所述第二测试位置(72)所测得的阻值用于检测所述第一接合位置(51)与所述第二接合位置(52)的阻值。