[发明专利]OTDR发射端光模块测试失效的自恢复方法有效

专利信息
申请号: 201510058625.8 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN105991184B 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: 邓彬 申请(专利权)人: 四川泰瑞创通讯技术股份有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071;H04B10/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开的一种光模块在OTDR测试中发射端失效的自恢复方法,旨在提供一种在OTDR测试中光模块发射端出于自我保护而导致关断激光器后进行自恢复的应用。本发明通过下述技术方案予以实现:在光模块中设置含有自恢复程序软件的微控制单元MCU,对光模块的工作状态进行轮询,当自恢复程序检测到光模块出现故障Fault状态后,判断Fault计数器是否小于3,是则自动进入中断程序,MCUI/O口产生一个高电平触发信号给驱动芯片,同时将Fault计数器加1,恢复光模块发射端驱动芯片正常工作;若大于3,则不进入中断程序,继续执行主程序。本发明通过光模块自身的自恢复功能来清除偶然的故障状态,既不影响光模块的正常使用,更是减少了系统运营商和光模块厂商的后期维护成本。
搜索关键词: 光模块 自恢复 发射端 计数器 驱动芯片 中断程序 高电平触发信号 微控制单元MCU 光模块测试 系统运营商 自恢复功能 测试 程序检测 程序软件 故障状态 继续执行 自我保护 激光器 主程序 关断 轮询 厂商 应用 恢复 维护
【主权项】:
1.一种OTDR发射端光模块测试失效的自恢复方法,其特征在于包括如下步骤:在光模块中设置含有自恢复程序软件的微控制单元MCU,自恢复程序软件告警门限由驱动芯片自身决定,同时产生一个Fault的故障信号,MCU对光模块的工作状态进行轮询,当自恢复程序检测到光模块出现故障Fault状态后,判断Fault计数器是否小于3,若小于3,则自动进入中断程序,通过MCUI/O口产生一个高电平触发信号Tx_disable信号给驱动芯片,同时将Fault计数器加1,恢复光模块发射端驱动芯片正常工作;若大于3,则不进入中断程序,继续执行主程序。
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