[发明专利]一种采用偏光显微镜观测纳米颗粒用于细胞成像的方法

摘要

本发明公开了一种采用偏光显微镜观测纳米颗粒用于细胞成像的方法，本发明采用偏光显微镜观察单个金纳米棒，发现偏光显微镜能够对各向异性的纳米材料进行选择性成像，在偏光显微镜下，金纳米棒的散射光点具有较小的尺寸，能够显著降低成像的背景值，相应地图像的信噪比得到至少3倍以上的改善。由于这种独特的光学性能，各向异性纳米材料和偏光显微镜在癌细胞成像和检测中有着巨大的应用潜力。

主权项

一种采用偏光显微镜观测纳米颗粒用于细胞成像的方法，其特征在于：所述方法的具体步骤如下：1)将细胞置于放置了玻片的塑料培养皿中，注入高糖DMEM培养基，使用1％的青霉素‑链霉素，10％的牛血清在37℃、5％CO2环境中进行培养；2)培养24h后，采用新的高糖DMEM培养基替换，并加入40ul抗体修饰的金纳米棒溶液，再培养4h；3)将盖玻片从培养皿中取出并倒置于载玻片上进行观察，成像使用Olympus BX51显微镜，显微镜装置100W的卤素钨灯、一个NA值为1.25‑1.36的油浸式聚光镜、40倍的平场消色差聚光镜和型号为Olympus DP73的彩色CCD，盖上盖玻片后，快速置于偏光显微镜下进行观察，当偏光显微镜用于颗粒成像时，起偏器应缓慢地旋转直至视场完全变黑，再逐渐调节焦面来找到金纳米棒，拍照时采用400ms的曝光时间。