[发明专利]特征分辨力快速测量方法

摘要

本发明涉及一种特征分辨力快速测量方法，其包括如下步骤：步骤1、获取包含N个特征量的数据集，数据集中每个特征量依据类别标识均被划分为C类别组，并对所述数据集进行所需的预处理；步骤2、计算数据集中任一特征量中每个类别组的方差，以得到所述特征量的C个特征量方差；步骤3、计算数据集中上述特征量中每个类别组对应的样本均值，以得到C个类别组均值，并计算所述C个类别组均值的均值方差；步骤4、根据上述C个特征量方差以及均值方差，计算所述特征量对应的特征分辨力；步骤5、重复上述步骤2~4，直至得到数据集中N个特征量的特征分辨力。本发明操作方便，能快速稳定地获得特征分辨力的测量结果，能降低计算复杂度。

主权项

一种特征分辨力快速测量方法，其特征是，所述测量方法包括如下步骤：步骤1、获取包含N个特征量的数据集，数据集中每个特征量依据类别标识均被划分为C类别组，并对所述数据集进行所需的预处理；步骤2、计算数据集中任一特征量中每个类别组的方差，以得到所述特征量的C个特征量方差；步骤3、计算数据集中上述特征量中每个类别组对应的样本均值，以得到C个类别组均值，并计算所述C个类别组均值的均值方差；步骤4、根据上述C个特征量方差以及均值方差，计算所述特征量对应的特征分辨力，所述特征分辨力D为$D=\frac{S_{\mathrm{\μ}}^2}{{\mathrm{\Σ}}_{j=1}^C{S}_j^2}$其中，S_μ为均值方差，S_j(j∈[1,C])为特征量方差；步骤5、重复上述步骤2～4，直至得到数据集中N个特征量的特征分辨力。