[发明专利]基于表面增强拉曼散射的高效测定谷物中微量呕吐毒素的新方法有效

专利信息
申请号: 201510064464.3 申请日: 2015-02-06
公开(公告)号: CN104568908B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 孙传文;袁景;杨海峰;郭小玉 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 周云
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于表面增强拉曼散射的高效测定谷物中微量呕吐毒素的新方法,以银纳米粒子作为表面增强拉曼散射的基底,通过测定谷物中的DON的表面增强拉曼散射(SERS)光谱,检测谷物中是否有超出限量的DON。本发明在玉米和芸豆表面DON检测限是10‑6M,在燕麦表面DON检测限是10‑4M,均远低于目前规定的限量标准。本发明第一次利用SERS技术来分析谷物中的DON,并且达到了快速、灵敏、准确和便携的效果,不仅做到了测试低成本,还做到了可以进行现场检测。相比较于其它传统的方法,本发明提供的SERS技术可以很好地被应用于多种真菌毒素的检测,是一种具有潜在应用价值和开发应用前景的新型测试方法。
搜索关键词: 基于 表面 增强 散射 高效 测定 谷物 微量 呕吐 毒素 新方法
【主权项】:
一种基于表面增强拉曼散射的高效测定谷物中微量呕吐毒素的新方法,其特征在于,采用便携式拉曼系统,通过测定谷物中的DON的表面增强拉曼散射光谱,拉曼光谱带范围设置为500至2200cm‑1,检测谷物中存有的微量DON,具体步骤如下:(1)确定DON特征吸收峰及其在待测谷物表面的检测限和制备银纳米粒子基底溶液;所述确定DON特征吸收峰及其在待测谷物表面的检测限的步骤为:1)测量银纳米粒子基底的SERS光谱;2)测量以银纳米粒子基底的不同梯度浓度的纯DON的SERS光谱;3)比较银纳米粒子基底的不同梯度浓度的纯DON的SERS光谱和银纳米粒子基底的SERS光谱,确定纯DON的特征吸收峰;4)测量以银纳米粒子为基底的,被不同梯度浓度DON污染的待测谷物样品的SERS光谱,比较干净且干燥的待测谷物样品的SERS光谱,确定DON在待测谷物表面的检测限;如检测限低于规定限量,则可将本方法用于检测;所述制备银纳米粒子基底溶液的步骤为:将硝酸银溶液用超纯水稀释,在100℃下搅拌5~10min,搅拌下加入柠檬酸三钠溶液,持续加热25~30min后得到银纳米粒子溶液,加入体积为其1%的10‑2M氯化钠并继续搅拌,室温下保存两个小时;(2)取银纳米粒子基底溶液滴加于待测谷物样品上,测量该样品的SERS光谱,检查所得样品的SERS光谱是否具有DON的特征吸收峰,以确定样品中呕吐毒素超限;所述谷物为玉米、芸豆或燕麦。
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