[发明专利]金属间化合物薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510065020.1 申请日: 2015-02-09
公开(公告)号: CN104674335B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 黄明亮;赵宁;杨帆;张志杰;邓建峰;赵杰 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C30B11/00 分类号: C30B11/00;C30B29/52
代理公司: 大连理工大学专利中心21200 代理人: 梅洪玉
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种金属间化合物薄膜的制备方法,是在第一金属基底上制备第一钎料金属层,可以在第二金属基底上制备第二钎料金属层,再将涂覆焊剂的第一钎料金属层和第二钎料金属层对准接触放置,形成一个组合体;或将第一钎料金属层第二金属基底对准接触放置,形成一个组合体;组合体加热至所需温度下进行钎焊回流,使第一金属基底的温度与第二金属基底之间形成温度梯度,直至钎料金属层熔化后发生钎焊反应全部转变为金属间化合物,去除残余第二金属基底,得到金属间化合物薄膜。本发明在钎焊回流时形成温度梯度,加速了金属间化合物的形成速率,且形成的金属间化合物可为单晶或具有单一取向;实现金属间化合物薄膜的低温制备,薄膜致密表面平整,成膜质量好。
搜索关键词: 金属 化合物 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种金属间化合物薄膜的制备方法,其特征在于,提供第一金属基底(10),所述第一金属基底(10)上采用电镀、溅射、气相沉积或蒸镀制备第一钎料金属层(12),第一金属基底(10)的材质为Cu、Ni、Pd、Au、Ag和Fe中的一种,第一钎料金属层(12)的材质为Sn、In、SnAg、SnAu、SnCu中的一种;提供第二金属基底(20);所述第一金属基底(10)和第二金属基底(20)具有相同的材质;所述第一金属基底(10)的温度低于第二金属基底(20)的温度;所述第一金属基底(10)为单晶或具有择优取向;第一金属基底(10)和第二金属基底(20)之间形成温度梯度;所述温度梯度定义为ΔT/Δd,所述ΔT为第二金属基底(20)上表面与第一金属基底(10)下表面之间的温度差,所述Δd为第二金属基底(20)上表面与第一金属基底(10)下表面之间的距离;两金属基底之间的钎料发生钎焊反应生成金属间化合物薄膜(30),所述金属间化合物薄膜(30)沿所述温度梯度的方向具有单一取向。
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