[发明专利]一种用于光谱气体分析仪的消干涉方法在审
| 申请号： | 201510065658.5 | 申请日： | 2015-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN104713831A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 季文海 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 张贵宾 |
| 地址： | 257100 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于光谱气体分析仪的消干涉方法，包括以下步骤的至少一种：破除光学部件表面的平行性，同时维持入射光和透射光的同向性；加强增透膜的透射率，进一步降低光学窗口的反射率；降低光源的相干性；增加一级透射光和二级透射光的空间分离，减少空间重合；改变具有平行表面的光学部件的厚度d；破坏表面的平滑度。本发明所述方法可应用在基于光谱技术的气体分析仪里，通过新型的光学设计，降低由于干涉所造成的基线结构幅度，提高它的机械稳定性，提高对温度变化和机械振动的抗干扰性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光谱 气体 分析 干涉 方法 | ||
【主权项】：
一种用于光谱气体分析仪的消干涉方法，其特征在于：包括以下步骤的至少一种：（1）破除光学部件表面的平行性，同时维持入射光和透射光的同向性；（2）光学部件外设置增透膜，通过加强增透膜的透射率，进一步降低光学窗口的反射率；（3）降低光源的相干性；（4）增加一级透射光和二级透射光的空间分离，减少空间重合；（5）改变具有平行表面的光学部件的厚度d；（6）破坏表面的平滑度。
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